文件名称:
PCB技术中的盐雾对集成电路性能的影响
开发工具:
文件大小: 95kb
下载次数: 0
上传时间: 2020-12-09
详细说明:杜迎 朱卫良(无锡微电子科研中心四室,江苏 无锡 214035)摘要:主要讲述了塑封电路、陶封电路和玻璃封装电路的成分,并对盐雾试验对它们的影响进行了理论分析。 关键词:盐雾;陶封;腐蚀 中图分类号: TN43 文献标识码: A 文章编号:1003-353X(2004)05-0056-031 前言 在沿海地带,大气中含有很多盐分。这些盐分会对金属零部件及材料长期腐蚀,影响产品的外形美观,降低产品的电性能和机械性能。盐雾试验的目的是检查产品或材料抗大气腐蚀的能力或适应性,检查材料或涂覆层的质量和均匀性。盐雾设备将盐溶液以雾的形式喷出来,使电路处于NaCl电解液中,这会发生许多电化学反应,本文要探
(系统自动生成,下载前可以参看下载内容)
下载文件列表
相关说明
- 本站资源为会员上传分享交流与学习,如有侵犯您的权益,请联系我们删除.
- 本站是交换下载平台,提供交流渠道,下载内容来自于网络,除下载问题外,其它问题请自行百度。
- 本站已设置防盗链,请勿用迅雷、QQ旋风等多线程下载软件下载资源,下载后用WinRAR最新版进行解压.
- 如果您发现内容无法下载,请稍后再次尝试;或者到消费记录里找到下载记录反馈给我们.
- 下载后发现下载的内容跟说明不相乎,请到消费记录里找到下载记录反馈给我们,经确认后退回积分.
- 如下载前有疑问,可以通过点击"提供者"的名字,查看对方的联系方式,联系对方咨询.