提出一种新的光栅条纹投影轮廓测量术系统模型，新模型不要求测量系统满足光心连线平行于参考面、成像系统光轴垂直于参考面以及两光轴相交于参考面上等约束条件，只需投射至参考平面的正弦光栅条纹之间相互平行，简化了系统校准过程，有利于现场测量。得到的高度相位映射关系式中，待标定的系数与像点的坐标无关，不需要对每一个像点进行采样，能够减少系统标定所需的时间。实验表明：所提方法使投影装置和成像系统的位置校准过程简单，提高了系统标定的速度，且具有较高的测量精度，能够测量复杂面形的物体，增强了光栅投影三维测量系统的