提出一种测试UHF频段无源RFID标签芯片灵敏度的方法。该方法依据矢量网络分析仪和标签测试仪接口 特性阻抗相同的特性，利用矢量网络分析仪测试标签芯片的反射系数，然后通过标签测试仪测试芯片和仪器接口的匹配损耗，进而计算标签芯片的灵敏度。利用该方法对NXPLG2XM芯片和Impinj—Monza3芯片在800-1000 MHz频段内灵敏度进行测试，并将测试结果与datasheet进行对照，分析误差产生的原因，最终证明此方法的准确性。该测试方法采用常规仪器对800-1000 MHz频段内灵敏度进行测

UHF频段无源RFID电子标签采用反射调制原理工作，其原理决定了电子标签芯片阻抗具有UHF频段、无源、时变性、非线性等复杂特性，尤其是对于尺寸不足1 mm2的单芯片，本身即存在着尺寸小、射频影响等困难，导致常规的测试方法很难准确地对电子标签芯片阻抗进行测试。本文研究了UHF无源单芯片阻抗测试方法，通过对标准芯片阻抗测试，对测试方法进行了检验。

提出一种用于UHF无源RFID标签芯片阻抗测试的新方法。利用ADS仿真软件对测试原理进行了仿真并实际制作了测试板。利用设计的测试板对NXP_XM芯片和Impinj_Monza4芯片进行了测试，分析了误差产生的原因，最终测试结果符合预期效果。