在电子测量技术中，测频测相是最基本的测量之一。相位测量仪是电子领域的常用仪器，当前测频测相主要是运用等精度测频、PLL锁相环测相的方法。研究发现，等精度测频法具有在整个测频范围内保持恒定的高精度的特点，但是该原理不能用于测量相位。PLL锁相环测相可以实现等精度测相，但电路调试较复杂。因此，选择直接测相法作为低频测相仪的测试方法。 　　设计的低频测相仪，满足以下的技术指标：a .频率20-20KHz；b .输入阻抗≥100KΩ；c.相位测量绝对误差≤1度； d.具有频率测量和数字显示功能；e.显

在电子测量技术中，测频测相是基本的测量之一。相位测量仪是电子领域的常用仪器，当前测频测相主要是运用等精度测频、PLL锁相环测相的方法。研究发现，等精度测频法具有在整个测频范围内保持恒定的高精度的特点，但是该原理不能用于测量相位。PLL锁相环测相可以实现等精度测相，但电路调试较复杂。因此，选择直接测相法作为低频测相仪的测试方法。 　　设计的低频测相仪，满足以下的技术指标：a .频率20-20KHz；b .输入阻抗≥100KΩ；c.相位测量误差≤1度； d.具有频率测量和数字显示功能；e.显示相位