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  1. Visual C++实用图像处理专业(高清PDF中文版)

  2. 本书共分13章。第1章介绍了图像处理的发展现状和图像处理的基本特点；第2章介绍了图像处理的基本概念，以及Visual C++图像处理编程的基本方法。以后各章分别介绍了区域分割与提取、边缘检测与提取、图像平滑、图像增强、特征选择与描述、彩色变换、彩色分割、几何变换、频率变换、图像压缩、小波变换等图像处理知识，以及相应的可自由调用的C语言图像处理源程序。在最后的附录里列出了专业版Imgc的Visual C++界面源程序。 本书随书光盘中包含有配套学习版软件Imgcx和专业版软件Imgc，可供读者学

  3. 所属分类：C++

  1. 傅里叶级数校正波片误差

  2. 使用傅里叶级数校正波片方向角的标定，给旋转波片的步骤带来方便。

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2014-06-26
    • 文件大小：308
    • 提供者：ironman102

  1. 精确确定光路中四分之一波片光轴方位的新方法

  2. 为了准确安装四分之一波片,介绍了一种精确确定光路中四分之一波片光轴方位的新方法,并利用米勒矩阵理论分析了影响测量结果的误差因素。测试方法所用的主要理论有米勒矩阵理论、傅里叶分析方法和最小二乘法。该方法利用最小二乘法得到了最优傅里叶系数,利用消光比测试原理实现了检偏棱镜的精确安装,利用反馈环控制系统对步进电机的步进角进行了控制。误差分析表明该方法的测量误差与四分之一波片光轴方位角本身的大小有关。实验结果表明该方法的标准不确定度为0.03。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-02-26
    • 文件大小：903168
    • 提供者：weixin_38553681

  1. 双饱和吸收镜被动锁模脉冲动力学过程分析

  2. 利用两片半导体可饱和吸收镜(SESAM)实现了稳定的被动锁模激光运转，获得了比单SESAM连续波锁模脉宽更窄、长时间运转稳定性更高的皮秒脉冲。理论上利用分步傅里叶变换法数值求解描述饱和吸收体被动锁模动力学过程的Haus主方程，模拟了双SESAM被动锁模的脉冲演化过程，分析了锁模激光脉冲形成过程与双SESAM可饱和吸收损耗系数q1和q2的关系,并计算得到了锁模脉冲宽度和锁模稳定区域等参数。计算结果与实验结果较为吻合。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-02-25
    • 文件大小：4194304
    • 提供者：weixin_38616359

  1. 旋转波片法成像斯托克斯偏振仪误差标定和补偿

  2. 旋转波片法成像斯托克斯偏振仪由可旋转的1/4 波片、固定的检偏器、成像光学器件和光电探测器构成，1/4波片的快轴方位角误差和相位延迟量误差是旋转波片法成像斯托克斯偏振仪的主要误差源，对其进行误差标定和补偿，可有效提高测量精度。为此，通过研究旋转波片测量法和傅里叶分析法，推导出入射光束斯托克斯参量与1/4波片参数误差之间的关系式，从而提出一种误差标定新方法，该方法以水平线偏振光作为标准参考光，对标准参考光进行测量，计算得到1/4波片的参数误差，并将其代入相应理论公式中，从而实现误差补偿。实验结果表

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-02-12
    • 文件大小：1048576
    • 提供者：weixin_38663029

  1. 基于虚拟仪器的斯托克斯参量测试系统

  2. 采用旋转波片法搭建了一套偏振态斯托克斯参量自动检测系统,每秒可以处理和显示15个偏振椭圆。该系统采用数据采集卡和LabVIEW软件来组成虚拟仪器,通过数据插值与重采样技术对旋转角度进行精确定位,消除了电机转速不稳定带来的系统误差。根据米勒矩阵得出透射光强随旋转角度的变化方程,并与实时采集的测量数据进行对比拟合,通过傅里叶变换得出曲线方程中的待定系数,给出对应的斯托克斯参量,并计算光波的电场分量及相位差,确定出射光的椭圆偏振消光比、长轴方向与椭圆旋向。还考查了本底噪声对测量结果的影响,比较了旋转波

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-02-10
    • 文件大小：354304
    • 提供者：weixin_38702726

  1. 样品校准法在单波长椭偏仪中的应用

  2. 椭偏仪是薄膜测量的重要工具。从模拟和实验两方面，描述一种新颖的单波长椭偏仪的校准方法。该方法的基本思路是：如果被测样品的相关信息(折射率n,吸收系数k,厚度d)已知，则可以通过测量光强变化的傅里叶系数，采用最小二乘法原理反演出此时椭偏系统的信息（即校准参数，包括起偏器方位角P，检偏器方位角A，波片起始旋转角Cs，波片位相延迟δ，系统入射角θ0）。利用校准得到的系统参数和测量未知样品得到的光强傅里叶系数，求得未知样品的厚度。该方法具有操作简单、节约成本等优点。分别针对2~6个样品尝试了校准，对该校

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-02-05
    • 文件大小：1048576
    • 提供者：weixin_38714910

  1. 利用多个标准样品校准光谱椭圆偏振仪

  2. 光谱椭偏仪是常用的测量薄膜厚度及材料光学性质的仪器，其准确性主要由系统的校准过程确定。提出一种新的利用标准样品校准光谱椭偏仪的方法。该方法通过对多个已知厚度和已知材料特性的薄膜样品进行测量，利用测量得到的多个样品的傅里叶系数光谱与包含未知校准参数的理论光谱之间进行对比，通过最小二乘法拟合，回归求解出整个系统的未知校准参数，包括偏振器方位角，波片延迟，波片方位角和系统入射角等。将该方法的应用领域扩展到200~1000 nm的宽光谱区域，并通过测量3~13 nm的SiO2/Si薄膜样品，实验验证了该

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-02-05
    • 文件大小：3145728
    • 提供者：weixin_38546846