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搜索资源列表

  1. Atmel公司8051架构单片机Protel元件库

  2. 　　　　Atmel公司8051架构单片机Protel元件库 版本：　Beta 2 Build 2004-04-15 作者：　汕头大学 (http://www.stu.edu.cn) 　　　　工学院 电子工程系 电子信息工程专业 1999级 　　　　林天鹏 (lintianpeng@163.net) 　　Protel电子设计自动化软件一直以来都没有提供Atmel公司8051架构单片机的元件库，电子爱好者和工程师们都得用其它公司8051架构单片机元件库来代替或者自己制作元件库。我根据Atmel公司

  3. 所属分类：C

    • 发布日期：2010-06-27
    • 文件大小：55296
    • 提供者：zangwuyun

  1. Protel DXP常用元件库

  2. Protel电子设计自动化软件一直以来都没有提供Atmel公司8051架构单片机的元件库，电子爱好者和工程师们都得用其它公司8051架构单片机元件库来代替或者自己制作元件库。根据Atmel公司官方网站(http://www.atmel.com)提供的Datasheet文件制作了一个Atmel公司8051架构单片机元件库。Protel DXP的IntLib格式一体化元件库，包括了原理图符号、元件注释、引脚电气特性和对应的DIP封装等，至于电路仿真和信号完整性分析模型等暂时没有提供。这个版本提供了

  3. 所属分类：硬件开发

    • 发布日期：2012-11-10
    • 文件大小：5242880
    • 提供者：longquan198999

  1. iphone 4s 点位图 电路图 元件面图

  2. iphone 4s 点位图 电路图 元件面图，对为iphones 4s 的维修很有用

  3. 所属分类：硬件开发

    • 发布日期：2014-03-30
    • 文件大小：4194304
    • 提供者：uuc200812

  1. 电气控制柜元件和配线设计规范.pdf

  2. 电气控制柜元件和配线设计规范pdf,提供“电气控制柜元件和配线设计规范”免费资料下载，本文详细说明电器元件和配线的技术要求，可供设计和安装参考使用。1.15标号应完整、清晰、牢固。标号粘贴位置应明确、醒目 b)双重的标识 命公 II lr ⊙ , AINMIL-E 1.16安装于面板、门板上的元件、其标号应粘贴于面板及门板背面元件下方, 如下方无位置时可贴于左方,但粘贴位置尽可能一致, c)门上的器件 1.17保护接地连续性 口保护接地连续性利用有效接线来保证。 口柜内任意两个金属部件通过螺钉连

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2019-10-14
    • 文件大小：3145728
    • 提供者：weixin_38743737

  1. 磁性元件要求.pdf

  2. 磁性元件要求pdf,本文介绍了磁性元件的工法要求，磁性元件认可问题点，厂商送样要求，磁性元件ISSUE实例分析。磁性元件要求 磁性元件工法要求 G銅箔加工要求 銅片四周圍須確保沒有毛邊,以免刺破絕緣膠布造成短路 銅片厚度4(含)mils以上,在四角均須做弧形處理.弧度 依如下規定: A:銅片寬度小於10(含)m,倒角弧度不可小於其1/2寬度 B:銅片寬度10~20(含)m,倒角弧度鳥R6 C:銅片寬度大于20m,倒角弧度R10. Bel ao 磁性元件要求 磁性元件工法要求 ●銅片厚度10(不

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2019-09-14
    • 文件大小：1048576
    • 提供者：weixin_38743968

  1. 元件及PCB丝印极性认识

  2. 元件及PCB丝印极性认识，PCB设计必备的知识，请收藏~~~元件及PCB丝印什 版本/修改次 极性认识 第3页共12页 元件 元件极性说 PCB丝印极性说 元件名称 实物图片 类别 PCB丝印符号 明 明 丝印符号三角形 有横线一边为负 极(左图红色圈) 本体内引 脚面积较大 丝印圆圈有缺口 的一边为负极 一边为负极 (左图红色圈) 插件发光 2.元件脚较 二极管 短的一边为 负极 实际作业过 丝印圆圈内有线 程中需测量 条一边为负极 确定 (左图红色圈) 丝印圆圈内锥形 LED 尖端一边为负极

  3. 所属分类：硬件开发

    • 发布日期：2019-03-03
    • 文件大小：1048576
    • 提供者：liuliu408

  1. 贴片元件的手工焊接步骤

  2. 昨天，金籁科技小编给大家介绍了贴片焊接工具，今天对焊接步骤进行详细说明，大家一起来学习吧。 1.清洁和固定PCB（印刷电路板） 在焊接前应对要焊的PCB进行检查，确保其干净（见图2）。对其上面的表面油性的手印以及氧化物之类的要进行清除，从而不影响上锡。手工焊接PCB时，如果条件允许，可以用焊台之类的固定好从而方便焊接，一般情况下用手固定就好，值得注意的是避免手指接触PCB上的焊盘影响上锡。 图2一块干净的PCB 2.固定贴片元件 贴片元件的固定是非常重要的。根据贴片元件的管脚多少，

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-07-14
    • 文件大小：361472
    • 提供者：weixin_38568548

  1. 铂电阻元件的结构及外形

  2. 铂电阻元件的结构形式常见的有下列三种: 1.薄膜式薄膜式铂电阻元件是由铂箔自积淀于瓷基体表面而形成的，它的体积较小， O℃时的电阻值较大。 2.线绕陶瓷式 线绕陶瓷式铂电阻元件用Φ0.02mm - Φ0.05mm 的铂丝绕成螺旋弹簧状，再装入陶瓷基体的纵向孔内，然后采用微电弧焊接，使铂丝与引线连接，孔内灌袖或填入氧化铝粉，端部用采釉封装。 3. 线绕玻璃式线绕玻璃式铂电阻元件是将绕好的电阻线圈嵌入玻璃外壳内而形成的。 常见铂电阻元件的外形如图所示。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-07-11
    • 文件大小：45056
    • 提供者：weixin_38655682

  1. MP3读卡器板的制作

  2. 这里介绍凌阳公司的MP3 读卡器板的制作。 　　MP3 读卡器主要功能是读取USB 和SD 卡内存储的MP3 格式的电子文档，扩展功能有收音（FM）、外输入、LED 数码屏显示、液晶显示功能。下面将分别介绍。 　　图1 是印制线路板的元件面，图2 是印制线路板的背面。 图1 印制线路板元件面 图2 印制线路板的背面。 　　一、主芯片各引脚功能 　　MP3 读卡器板 的主芯片是一个48 脚封装，脚间距为1.27mm 的MCU.引脚功能如图3 所示。 　　二、电路分析 　

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-21
    • 文件大小：785408
    • 提供者：weixin_38698174

  1. 接近开关接线图分享

  2. 接近开关一种用于工业自动化控制系统中以实现检测、控制并与输出环节全盘无触点化的新型开关元件。当开关接近某一物体时，即发出控制信号。 接近开关也叫近接开关，又称无触点行程开关，它除可以完成行程控制和限位保护外，还是一种非接触型的检测装置，用作检测零件尺寸和测速等，也可用于变频计数器、变频脉冲发生器、液面控制和加工程序的自动衔接等。特点有工作可靠、寿命长、功耗低、复定位精度高、操作频率高以及适应恶劣的工作环境等。　　1）接近开关有两线制和三线制之区别，三线制接近开关又分为NPN型和PNP型，它们的接

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-21
    • 文件大小：74752
    • 提供者：weixin_38542148

  1. PCB技术中的01005元件印刷钢网的设计

  2. 总共设计3张印刷钢网，其中两张钢网用于A面01005元件的锡膏印刷；另外一张用于B面01005元件和0201元件的 锡膏印刷。表1列出了3张印刷钢网之间的区别。 　　表1 3张印刷钢网的目的不一样 　　应用第一张印刷钢网主要目的是确定保证装配良率前提下，锡膏印刷的合适公差。钢网上01005元件的开孔是 在前面所介绍的0201元件成功的工艺基础上加以比例缩放的，表2中列出了其比例缩放的计算公式。在这张钢网 上，9种焊盘宽度和长度的组合对应的钢网开孔有两种，一种是“标准”开孔，即锡膏印刷不超出焊

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-11-13
    • 文件大小：167936
    • 提供者：weixin_38731979

  1. 元器件应用中的铂电阻元件的结构及外形

  2. 铂电阻元件的结构形式常见的有下列三种　　　1.薄膜式    薄膜式铂电阻元件是由铂箔积淀于瓷基体表面而形成的，它的体积较小，o℃时的电阻值较大。　　2.线绕陶瓷式　　线绕陶瓷式铂电阻元件用φ0.2mm~φ0.O5mm的铂丝绕成螺旋弹簧状，再装人陶瓷基体的纵向孔内，然后采用微电弧焊接，使铂丝与引线连接，孔内灌釉或填入氧化铝粉，端部用釉封装。　　3.线绕玻璃式　　线绕玻璃式铂电阻元件是将绕好的电阻线圈嵌人玻璃外壳内而形成的。常见铂电阻元件的外形如图1所示。                   

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-11-22
    • 文件大小：59392
    • 提供者：weixin_38735987

  1. 计算机制全息图改造激光波面和模式

  2. 以变换椭圆高斯光束为圆对称高斯光束为例,本文给出了用计算机制全息图作为变换元件改造激光波面和模式的理论和方法.推导出产生计算机制全息图的数学方程.制作出计算机制全息图,并得出了实验结果.

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-03-05
    • 文件大小：1048576
    • 提供者：weixin_38745891

  1. 基于双波长数字全息术的微光学元件折射率分布及面形测量

  2. 提出了一种测量微光学元件的折射率分布及面形的方法。该方法基于双波长数字全息术，将微光学元件浸入折射率匹配液降低通过微光学元件的透射光波频率，获取微光学元件在两个不同波长照明光波下的数字全息图，并根据两个波长下的相位分布，计算出微光学元件的折射率分布，利用得到的折射率分布获取微光学元件的面形。理论分析及实验结果证明了所提方法的可行性。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-02-12
    • 文件大小：4194304
    • 提供者：weixin_38603875

  1. 欠采样包裹相位图的恢复方法

  2. 针对非球面光学元件面形检测中的欠采样问题，提出了一种欠采样包裹相位图的恢复方法。首先，将原始欠采样包裹相位图在水平和竖直两个方向进行一个像素的错位相减，得到两个包裹相位差图。其次，对这两个包裹相位差图进行解包裹运算，得到两个解包裹相位差图。最后，应用傅里叶变换和最小二乘法恢复出连续的相位分布。模拟结果表明该方法可以高精度地对欠采样包裹相位图进行恢复重建。该方法与现有干涉仪相结合，有望实现非球面光学元件面形的检测。关键词傅里叶光学；欠采样；包裹相位；剪切干涉； 傅里叶变换；最小二乘法

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-02-12
    • 文件大小：2097152
    • 提供者：weixin_38691006

  1. 基于数字全息显微成像的微光学元件三维面形检测

  2. 针对微光学元件的三维面形检测，提出了利用数字全息显微(DHM)方法实现全视场、非接触式和非破坏性的快速三维定量相衬成像。首先构建了无透镜傅里叶变换数字全息装置，通过对获取的全息图进行单次快速傅里叶逆变换实现数值再现，然后采用两步相位相减法校正相位畸变，利用最小二乘法获得解包裹相位图，进而给出测试样本的面形信息。实验中，对微透镜阵列进行了形貌检测，得到其口径和浮雕深度分别为1.595 mm和2.424 μm，这与采用白光干涉仪获得的结果具有较好的一致性，表明无透镜傅里叶变换数字全息显微术应用于微光

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-02-12
    • 文件大小：4194304
    • 提供者：weixin_38558870

  1. 用于ICF的大尺寸位相元件的设计

  2. 发展了用于实现ICF靶面均匀照明的大口径连续型位相元件设计的新方法，并且在工艺上进行了初步试制。等厚干涉图显示达到了预期的大口径、连续的要求。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-02-11
    • 文件大小：1017856
    • 提供者：weixin_38570459

  1. 用二元光学技术制作计算全息波面变换元件

  2. 基于计算全息原理与二元光学技术设计制作了应用于机载平视显示器(HUD)中的计算全息波面变换元件.该元件具有较高的衍射效率,一块二元相位型计算全息元件的衍射效率比一般计算全息图的衍射效率提高了四倍,并能产生传统光学元件不能实现的光学波面,如非球面、环状面和锥面等.制作工艺简单,复制简便.

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-02-11
    • 文件大小：100352
    • 提供者：weixin_38536349

  1. 刀口法检测光学元件面形的数值模拟研究

  2. 传统刀口仪检测光学元件面形具有设备简单、非接触性测量等优点，但传统刀口仪只能定性评价面形质量，且人为因素较大。在传统刀口检测原理的基础上，建立了面形缺陷与阴影图相对应关系的数学模型。为了验证该模型的正确性，对口径150 mm的凹透镜进行了数值模拟研究。设置模拟的缺陷参数，利用建立的数学模型得到对应的阴影图；用波像差理论对该阴影图进行分析处理，得到该元件的面形缺陷；将分析得到的缺陷参数与预先设置的面形缺陷进行比较，二者吻合很好。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-02-10
    • 文件大小：313344
    • 提供者：weixin_38565221

  1. 基于短相干光干涉的平行平板型光学元件面形测量

  2. 为了解决使用激光干涉仪测量平行平板光学元件面形时会产生干扰条纹的问题，提出了一种利用短相干光干涉测量平行平板光学元件面形的方法。在泰曼格林干涉仪中使用钠光为光源，由于钠光为短相干光源，当参考面与被测平板前表面光程匹配时，平行平板后表面的反射光无法与参考光和测试光干涉，从而避免了干扰条纹的产生。测量时采集到的为单幅干涉图，使用虚光栅移相叠栅条纹法从中提取波面数据，即可得到平行平板光学元件的面形数据。实验测量了一平行平板光学元件的面形，其面形数据与使用Zygo干涉仪测得的结果吻合。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-02-06
    • 文件大小：2097152
    • 提供者：weixin_38672962
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