摘要：集成电路制造技术的进步带来了越来越小的工艺尺寸，与此同时也带来了更多的和速度相关的故障。这些故障可以是由于工艺的偏差、不纯净的材料以及各种灰尘导致的。对于目前越来越多的高速芯片而言，即使一个很小的延迟故障也会影响芯片的正常工作频率，通常的由测试机提供慢速时钟的测试方法无法覆盖由于高速而带来的故障，由于这些原因，at—speed测试对于高速大规模集成电路变得至关重要。 　　利用扫描技术进行at—speed测试已经证明是一种测试与timing相关故障的有效方法。事实上由于扫描测试具有和功能测