理论和实验研究了光子晶体光纤之间的熔接损耗。采用有限元法（FEM）结合完美匹配层（PML）,对包层为三角形栅格结构的2根相同的光子晶体光纤（PCF）之间的熔接损耗进行了理论计算分析。结果表明，当2根光纤的光轴对准时，固定其中一根光纤，绕光轴旋转另一根光纤会导致模场失配，从而产生旋转损耗。旋转损耗随旋转角度周期振荡，且与空气孔直径相比，孔间距对旋转损耗的影响较大。优化选择熔接机参数，避免空气孔塌缩和熔接点处产生气泡，实验测量了这2根相同光子晶体光纤之间熔接后的最大和最小光功率输出，得到其熔接损耗差

通过气体填充和泄漏实验, 结合微管管流理论, 研究了空芯光子晶体光纤(HC-PCF)高压气体填充和泄漏特性。结果表明, 空芯光子晶体光纤的气体填充过程缓慢, 减小出口密封腔体积可有效缩短充气时间。当将空芯光子晶体光纤一端与单模光纤(SMF)熔接后再进行氮气填充, 对于3.03×106 Pa填充气压, 在4 h内, 9 m长的空芯光子晶体光纤内部气压将达到平衡。实验测量了该9 m长, 3.03×106 Pa的充氮空芯光子晶体光纤单端泄漏速度随时间的演变特性, 给出了一种制作全光纤型空芯光子晶体光纤

在理论分析基础上,采用常规电弧放电熔接技术,在1550 nm波段对高非线性光子晶体光纤(PCF)与单模光纤(SMF)的熔接损耗机制进行了实验研究,指出模场失配是造成两者直接熔接损耗的主要因素；而熔接过程中因放电电流过大或放电时间过长所导致的光子晶体光纤的包层气孔形变以致塌陷,会引起超过10 dB的附加损耗。采用过渡光纤有效地缓解了两种光纤模场的失配；通过优化放电参数,有效地避免了光子晶体光纤包层气孔的塌陷,实现了高非线性光子晶体光纤和单模光纤的低损耗(<1 dB)熔接。

研究了长脉冲抽运光子晶体光纤(PCF)正常色散区超连续谱的产生。依据透镜耦合的基本条件设计了激光器与入射光纤之间的耦合系统,该系统的耦合效率可以达到60%;实现了模场不匹配的普通光纤与光子晶体光纤的低损耗熔接,实验测得的熔接损耗为3.8 dB,低于理论计算的熔接损耗5 dB。随着抽运功率的增加,产生了平均功率为1.2 W,10 dB的带宽为710-1700 nm的超连续谱。实验结果表明,长脉冲抽运光子晶体光纤的正常色散区,受激拉曼散射在光谱加宽的最初阶段发挥了重要作用,而高阶孤子分解和交叉相位调