自望远镜、显微镜、照相镜头等光学仪器相继出现以来，逐渐发展和完善了对光学仪器成像性能检测和评价的方法。近几+年出现了基于CCD、CMOS和HgCdTe红外焦平面阵列等光电成像器件和衍射光学元件全息光学元件等组成的各种光电仪器，现又发展了光电仪器成像性能评测的方法。