您好,欢迎光临本网站![请登录][注册会员]  

搜索资源列表

  1. Matlab与VC混合编程在光斑位置测量中的应用.pdf

  2. Matlab与VC混合编程在光斑位置测量中的应用.pdf
  3. 所属分类:C++

    • 发布日期:2010-05-27
    • 文件大小:221184
    • 提供者:wzw12315
  1. Matlab与VC_混合编程在光斑位置测量中的应用

  2. 基于vc++和matlab的光斑图像检测
  3. 所属分类:C++

    • 发布日期:2013-01-12
    • 文件大小:2097152
    • 提供者:fengbedong
  1. 悬臂式掘进机机身及截割头位姿视觉测量系统研究

  2. 针对煤矿井下悬臂式掘进机机身及截割头位姿测量难题,提出一种基于激光束和红外光斑特征的悬臂式掘进机机身及截割头位姿视觉测量系统。在掘进工作面的巷道顶部安装3个激光指向仪,通过固定安装在掘进机机身上的防爆相机对激光束图像进行采集,利用改进的随机Hough变换对激光束进行直线检测,通过建立的基于两点三线的掘进机位姿解算模型得到掘进机机身在巷道坐标下的位姿。同时,通过防爆相机对截割部所安装的红外标靶图像进行采集,利用高斯曲面拟合算法对光斑进行中心定位,通过建立的基于对偶四元数的掘进机截割头位姿解算模型得
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-04-23
    • 文件大小:1048576
    • 提供者:weixin_38652636
  1. 显示/光电技术中的多束激光热轧带钢板形测量仪的技术内容

  2. 如图1所示,该仪器采用7×3共21支半导体激光束倾斜照射到带钢表面,由CCD摄像机将漫反射光斑点阵的位置信号送到计算机进行图像处理,从而测出带钢的平直度。   主要技术指标:   ● 带钢运行速度:≤10 m/s;   ● 被测带钢温度:≤950'C;   ● 高度测量范围:0~200 mm:   ● 高度测量精度:±1 mm;   ● 高度测量周期:10次/秒;   ● 现场防护要求:防尘、防水蒸汽、防热辐射。   图1  测量装置示意图   欢迎转载,信息来源维库电子市
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-11-13
    • 文件大小:56320
    • 提供者:weixin_38746918
  1. 电子测量中的分光光源灯的调整

  2. 光源灯的调整,分为钨灯和氖灯的调整,具体方法如下:   ①将波长盘旋至580nm处,狭缝刻度旋至2mm把光源灯反向镜转至“钨灯”工作区,当钨灯点亮时,用一张白纸放人样晶室,在白纸上可观察到橙黄色的光斑,如图1a所示。   ②如果不是图1a所示光斑而是其他形状,则首先旋松光源反向镜的角度定位螺钉,如图2所示;然后,仔细调整该反射镜的工作角度,使二只光源灯(钨灯或氖灯)的能量最大限度地射进狭缝中。   图1   光斑调整图  a 正常光斑 b)、c)、d)、e)不正常光斑   ③旋松或紧
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-11-13
    • 文件大小:118784
    • 提供者:weixin_38529239
  1. 光外差测量在无损探伤中的相位匹配

  2. 在光外差测量中,信号光与本振光的光程差、探测器的相对位置、探测器光敏面相对于激光光斑的大小和聚焦透镜的焦距,对系统的外差效率都有重要影响。针对光学外差无损探伤应用,计算分析了这4个因素对外差效率的影响。对外差效率的数值计算表明:系统外差效率随着光程差的增大而降低,探测器位置不同,此下降趋势不同;探测器相对位置和探测器光敏面大小则具有最佳值;聚焦透镜对外差效率有很大的影响,其焦距只能在一个很窄的范围内选择,被测目标物体与测量系统中透镜的距离越近,此选择范围越窄。根据理论计算所设计的超声外差探伤系统
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-03-05
    • 文件大小:874496
    • 提供者:weixin_38607554
  1. 光斑矩参量阵列测试法的测量不确定度

  2. 为计算和评估光斑矩参量阵列测试法的测量不确定度,以光斑矩参量积分表达式为出发点,推导了零阶近似下光斑矩参量的离散表达式,初步分析了光强分布数据中单元位置及探测光功率的测量不确定度。在此基础上,根据不确定度传递律,推导了阵列测试法下光斑矩参量测量不确定度的一般表达式。进一步得到了数种常用简化条件下的矩参量不确定度表达式,并进行了相应的分析。由此建立了光斑矩参量计算及其不确定度评定的一套完整方法。利用简化公式,对自行研制的激光光斑分析仪和通用的CCD面阵探测器的光斑矩参量测量不确定度进行了分析,给出
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-03-05
    • 文件大小:801792
    • 提供者:weixin_38646914
  1. 同时测量光电导响应和少子寿命分布的两个半导体激光器的组合使用

  2. 介绍使用两个红外半导体激光器,一束为可调谐Pb1-xSnxTe激光.另一束为GaAs/GaAlAs激光,经光学系统均会聚成φ250 μm的小光点,且将二光斑成象在同一位置上.实验测量了光斑的尺寸,最后用此光学系统研究了窄禁带半导体Hg1-xCdxTe的稳态光电导响应和少子寿命分布.
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-03-05
    • 文件大小:1048576
    • 提供者:weixin_38653664
  1. 基于相位调制的单次曝光波前测量在高功率激光驱动器中的应用

  2. 基于相位调制的迭代算法被用于高功率激光驱动器的波前在线测量和大口径光学元件的离线检测,该算法只需要单幅衍射光斑和一块分布已知的随机相位板,利用图形处理器(GPU)硬件加速后可在30 s 以内完成迭代计算,并且集成后结构紧凑,基本可放置于高功率激光驱动器的任意位置。基于该方法完成了焦斑预测和对比实验,在现有高功率激光驱动器中对种子光的波前分布进行了在线测量,同时实现连续相位板(CPP)的离线检测。相关实验表明,该算法能够用于解决高功率激光驱动器中焦斑预测、波前在线恢复和大口径光学元器件检测的问题,
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-03-02
    • 文件大小:4194304
    • 提供者:weixin_38713412
  1. 双波段近海激光通信大气参数测量与估算模型修正

  2. 针对定量评估大气湍流对近海激光通信影响的问题,提出了基于对850 nm 和1550 nm 波段激光光斑同步采集的大气折射率结构常数测量方案。采用现场可编程门阵列(FPGA)+多核数字信号处理器(DSP)架构的实时图像处理系统实现目标中心位置的提取与目标灰度和的统计,进而得到激光自发射端至接收端的到达角起伏方差和闪烁指数。将两个不同波段的同步采集结果分别代入已有的大气折射率结构常数计算模型中,比较同一模型不同波段所得结果的相似性,并对相应模型中的参数进行修正,使同一时刻及环境的两种波段条件下,经修
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-02-23
    • 文件大小:3145728
    • 提供者:weixin_38695452
  1. 基于刀口测量法的激光光束质量误差特性

  2. 理论研究了刀口测量法中激光光斑宽度测量误差与位置测量误差对光束质量因子M2、远场发散角、束腰半径以及束腰位置的测量误差的影响, 并通过光束质量分析仪对理论研究结果进行了验证。结果表明, 相比纵向位置测量误差, 激光光斑宽度测量误差对光束质量的影响更大。
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-02-23
    • 文件大小:4194304
    • 提供者:weixin_38656103
  1. 基于叠层扫描成像技术的成像透镜透射波前测量方法

  2. 将叠层扫描成像技术(ePIE)用于成像透镜透射波前的高精度测量。将透镜的透射光束照射至一个固定于二维扫描台的衍射物上,并在其后的探测器上形成衍射光斑,扫描台横向扫描并记录衍射物在每个位置所形成的衍射光斑,采用ePIE精确重建衍射物体的光场复振幅,并据此反演出透镜后表面的透射光波前;移去透镜后重复上述步骤,可以重建入射到透镜上的光束波前;将透射波前减去入射波前即可得到透镜的透射波前。该方法具有准确性高、结构简单、成本低廉等优点。
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-02-13
    • 文件大小:664576
    • 提供者:weixin_38551046
  1. 基于激光三角法对透明平板厚度测量光线补偿的研究及应用

  2. 提出了一种基于激光三角法光线折射补偿对透明平板厚度测量的方法,设计了基于单激光位移传感器的透明平板厚度测量装置,并应用于准分子激光投影光刻加工透明材料时的像面校准。首先构建了激光三角法测量情形下偏折光线和透明平板位置之间的关系,分析了散射光斑因折射发生的位置偏移量与平板厚度之间的关系,以及透明平板与散射基面的间距和散射基面位置的变化对测量结果产生的影响。然后设计了基于单激光位移传感器的透明平板厚度测量装置,实验验证了散射光斑偏移量和平板厚度之间的对应关系,测得了聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)厚度测
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-02-12
    • 文件大小:2097152
    • 提供者:weixin_38688890
  1. 投影光刻机硅片调焦调平测量模型

  2. 成像质量是光学光刻机的最主要指标,硅片调焦调平测量是光刻机控制成像质量的基础。为此建立了硅片调焦调平测量系统单个测量点的测量模型,并根据硅片形貌标准和集成电路尺寸标准,推导了近似运算规则,简化了曝光场高度与测量光斑在光电探测器上的位置之间的数学关系。运用最小二乘法和平面拟合曝光场曲面的方法,推导了基于多个测量点的曝光场高度和倾斜测量的数学模型。该模型能满足调焦调平实时测量和控制的需要,可用于测量精度优于10 nm的高精度调焦调平测量系统,能满足线宽小于100 nm投影步进扫描光刻机的需要。
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-02-12
    • 文件大小:676864
    • 提供者:weixin_38573171
  1. 同步辐射压弯准直镜姿态的检测——大曲率半径小口径光斑的波前检测

  2. 提出了利用微小楔角剪切干涉仪测量同步辐射压弯准直镜姿态的方法。利用透镜和针孔产生与同步辐射发散度相同的激光束。通过剪切干涉仪,测量经压弯准直镜输出激光束的平行度,可将准直镜的位置、俯仰角度和镜面曲率皆调整到最佳。该剪切干涉仪结构简单,可根据条纹图样判断光束的平行度,每一幅干涉条纹图样与准直镜的一种姿态对应,因而这种方法能确定准直镜表面各点反射X射线的整体效果。该方法适用于测量波前曲率半径大竖直口径小的光束,不但精度高,而且具有实用价值。
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-02-11
    • 文件大小:1048576
    • 提供者:weixin_38526225
  1. 入射光强和背景光对二维光电位置敏感器件干扰的影响

  2. 光电位置敏感器件(PSD)是一种可直接对其光敏面上的光斑位置进行检测的光电器件,可构成非接触高精度动态测量系统。光电位置敏感器件在使用中的关键问题是如何定量确定入射光强的大小和克服各种背景光干扰,以提高检测的精度和可靠性。根据光电位置敏感器件的原理和光点位置方程,找到有背景光作用于光电位置敏感器件上位置输出的关系及背景光导致的位置误差的实验数据,同时研究入射光强对光电位置敏感器件位置输出误差最小的定量关系。
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-02-11
    • 文件大小:1029120
    • 提供者:weixin_38545332
  1. 调焦调平探测光斑位置误差对测量准确度影响的研究

  2. 调焦调平测量系统(FLMS),实时测量硅片曝光视场区域与投影物镜焦面的相对位姿,其测量准确度影响光刻机曝光成像质量。调焦调平测量采用大入射角将3个以上的探测光斑投影到硅片曝光视场区域实现对硅片高度和倾斜的测量。如果光斑位置存在误差,就会引起硅片测量准确度误差,进而造成硅片曝光视场区域离焦,影响曝光成像质量。根据调焦调平单点几何测量模型,建立了光斑位置误差模型。研究结果表明,调焦调平单光斑的测量高度误差与光斑水平位置误差成正比,经调整调焦调平的零平面与焦面近似平行,并精确校准光斑水平位置误差到0.
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-02-10
    • 文件大小:1048576
    • 提供者:weixin_38637665
  1. 远距离激光光斑位置高精度测量方法

  2. 为了提高激光光斑位置测量精度,考虑影响光斑测量精度的因素,并对若干关键技术进行研究。为了抑制由于气溶胶散射导致的激光后向散射,研究距离选通技术,提出一种基于四象限探测器的异步距离选通技术;为了削弱大气湍流的随机扰动对激光光斑成像的影响,提出一种改进的盲解卷积事后复原方法,并从数学上证明了该方法的收敛性;为了消除多传感器采集图像之间的差异,提出一种基于目标区域的图像配准算法;还原光斑图像并利用高斯曲面拟合法提取激光光斑的位置信息。实验结果表明,提取到的激光光斑位置精度不大于0.3 pixel。
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-02-09
    • 文件大小:3145728
    • 提供者:weixin_38717980
  1. 基于位置敏感器件的高精度激光位置检测系统

  2. 光电非接触式测量方法对实现微位移测量具有重要意义,位置敏感器件(PSD)是实现光斑位置探测的传感器件,其探测精度以及基于该器件的数据处理方法直接影响位置测量精度。依据PSD各电极输出的光电流大小反比于入射光位置到各电极之间距离的工作原理,设计了二维激光位置检测系统方案。为了提高PSD输出微弱电流信号的稳定性和位置探测精度,重点研究了信号调理电路设计、参数匹配、滤波方法与实时并行计算方法。实验结果表明:在±2 mm方形区域内,基于PSD所设计的探测系统单点稳定性精度优于2 μm,能够满足依托项目中
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-02-07
    • 文件大小:15728640
    • 提供者:weixin_38742532
  1. 准直误差对光束质量因子测量影响的理论与实验研究

  2. 测量激光光束质量(M2)因子时一般要求光路准直, 同时要求降低噪声对光斑半径测量的影响。光路偏移会导致CCD采集的光斑偏离CCD中心, 噪声使偏移光束的光斑半径和M2因子的测量值存在额外误差。针对含噪声且光路偏移CCD中心的情况, 提出了一种测量M2因子的改进方法, 即当光路不准直时, 在光路每个位置采集两个不同偏移量的光斑, 则可校正得到光斑半径的真实值, 从而得到无准直误差的M2因子。理论推导了激光光束的光斑半径和M2因子与偏移量的变化关系, 通过数值仿真和实验研究了偏移光束的光斑半径和M2
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-02-04
    • 文件大小:10485760
    • 提供者:weixin_38589812
« 12 3 4 »