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光电振荡器测距方法中的纵模阶数测量
在光电振荡器(OEO)测距方法中,振荡频率与环路群时延关系的建立依赖于纵模阶数,纵模阶数测量误差直接影响测距精度。但是OEO频率稳定性较低,通过直接测量振荡频率和相邻纵模频率间隔所获得的纵模阶数误差较大。分析了频率漂移对纵模阶数测量的影响及测量过程中的频率漂移规律,提出一种新的纵模阶数测量方法,该方法在不改变OEO结构的基础上,利用OEO纵模等间隔分布的特点,分别测量振荡模到x阶高阶模和x阶低阶模的频率间隔后获取纵模间距,减小并补偿频率漂移造成的误差。随后建立了纵模阶数测量误差模型,并进行了1
所属分类:
其它
发布日期:2021-02-05
文件大小:2097152
提供者:
weixin_38693084