白光干涉测量技术白光干涉测量技术

光谱域光纤白光干涉测量技术

与激光干涉测量技术相比，光纤白光干涉(WLI)测量术一个最大的优势是能够绝对测量静态的物理参数。综述了近年来国内外在光谱域光纤白光干涉测量技术领域所做的研究工作，重点阐述各种基于相位测量的光纤白光干涉测量法，包括干涉级次法、傅里叶变换相位法、傅里叶变换相对测量法、波长扫描测量法和相移测量法。其目的是为了解决光谱获取问题、测量分辨率问题和自动测量问题，实现光纤白光干涉测量技术的仪器化和工程化。