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免疫投影基准光强变化的五步移相算法在条纹投影偏折法中的应用
为了提高条纹投影偏折法对自由曲面的测量精度,通过分析投影到待测面的条纹光强变化形式,推导出一种可以免疫光强变化的五步移相算法,并通过频域傅里叶分析论述了该算法的可行性。数值实验结果表明,免疫光强变化的五步移相算法在基准光强变化1%~5%,杂散光噪声为0.1%~0.5%的情况下,相位计算精度峰值为0.0042λ,均方根值为0.0014λ,在消除离焦影响后,相位计算精度可以达到0.0009λ。与其他移相算法的对比分析,进一步说明了该算法的优势,免疫光强变化五步移相算法在利用条纹投影偏折法测量自由曲面
所属分类:
其它
发布日期:2021-02-08
文件大小:3145728
提供者:
weixin_38673909