为了提高条纹投影偏折法对自由曲面的测量精度，通过分析投影到待测面的条纹光强变化形式，推导出一种可以免疫光强变化的五步移相算法，并通过频域傅里叶分析论述了该算法的可行性。数值实验结果表明，免疫光强变化的五步移相算法在基准光强变化1%~5%，杂散光噪声为0.1%~0.5%的情况下，相位计算精度峰值为0.0042λ，均方根值为0.0014λ，在消除离焦影响后，相位计算精度可以达到0.0009λ。与其他移相算法的对比分析，进一步说明了该算法的优势，免疫光强变化五步移相算法在利用条纹投影偏折法测量自由曲面