注册会员 | 设为首页 | 加入收藏夹
您好，欢迎光临本网站！[请登录] ！[注册会员]！  

搜索资源列表

  1. Tolerance Analysis(公差分析)

  2. Tolerance Analysis(公差分析)

  3. 所属分类：制造

    • 发布日期：2012-05-13
    • 文件大小：616448
    • 提供者：sonewboy

  1. 用软件公差分析

  2. 公差分析

  3. 所属分类：制造

    • 发布日期：2012-09-29
    • 文件大小：3145728
    • 提供者：zhenghch_autek

  1. 公差分析软件GTOL 1.0

  2. GTOL 1.0是一款公差分析软件，可进行线性公差分析和非线性公差分析，对1维、2维和3维的尺寸链都能进行分析。线性公差分析采用极值法（WORST CASE）和统计法（RSS）进行分析；非线性公差分析采用Monte Carlo法进行分析。GTOL 1.0同时提供精确的敏感度和贡献度分析报表。

  3. 所属分类：制造

    • 发布日期：2012-12-09
    • 文件大小：4194304
    • 提供者：tmcnc

  1. 公差分析软件GTOL 1.0(试用版-免费)

  2. GTOL 1.0是一款简单易用、功能强大的公差分析软件，可进行线性公差分析和非线性公差分析，对1维、2维和3维的尺寸链都能进行分析。线性公差分析采用极值法（WORST CASE）和统计法（RSS）进行分析；非线性公差分析采用Monte Carlo法进行分析。GTOL 1.0同时提供精确的敏感度和贡献度分析报表。还提供标准公差查询、基孔制和基轴制常用配合表，以及各种加工设备的通用加工方法所能达到的标准公差表等。提供基于设备标准差的公差与不合格率换算。

  3. 所属分类：制造

    • 发布日期：2012-12-24
    • 文件大小：4194304
    • 提供者：tmcnc

  1. pro/e公差分析

  2. 公差分析详细描述了proe公差分析技术。学习后可以学习cetol。

  3. 所属分类：制造

    • 发布日期：2013-09-08
    • 文件大小：2097152
    • 提供者：u012036419

  1. 统计公差设计技术

  2. 统计公差 公差分析基础 Tolerance analysis 先进制造和设计技术

  3. 所属分类：制造

    • 发布日期：2013-09-09
    • 文件大小：2097152
    • 提供者：u012045969

  1. 公差分析软件cetol 6西格玛

  2. 使用cetol 6西格玛 进行公差分析实例

  3. 所属分类：制造

    • 发布日期：2014-08-24
    • 文件大小：1048576
    • 提供者：steel666

  1. proe5.0公差分析

  2. proe5.0公差分析，学习资料,

  3. 所属分类：制造

    • 发布日期：2015-03-07
    • 文件大小：391168
    • 提供者：zhouyimin100

  1. 公差分析 支持excel2013

  2. 公差分析 支持excel2013 网上找不到能用的, 这个sn只支持公差分析, 是否支持后续开发的心版本, 自行测试

  3. 所属分类：制造

    • 发布日期：2016-03-23
    • 文件大小：3145728
    • 提供者：moleout

  1. 尺寸链计算及公差分析介绍

  2. 帮客户解决公差相关问题即咨询服务； 帮客户提升工程师在尺寸链计算方面的能力； 帮企业建立尺寸链计算方面的体系、标准； 提供尺寸链计算及公差分析软件DCC； 帮客户建立模板库，降低尺寸链计算难度。

  3. 所属分类：制造

    • 发布日期：2020-05-12
    • 文件大小：5242880
    • 提供者：insky1816

  1. 公差分析在继电器吸反力配合中的应用

  2. 针对电磁继电器吸力与反力的配合,需要分析装配尺寸的主要参数及其公差的合理性。运用蒙特卡洛模拟法的随机统计思想,以主要参数尺寸链的计算为依据,利用Crystal Ball分析工具,对继电器装配中的关键尺寸及公差进行计算和统计分析,找出影响继电器主要参数的关键尺寸和公差。合理设计关键尺寸的公差,提高继电器吸合与释放的概率,使继电器吸力与反力更好地配合,为继电器免校正的推广提供一套切实可行的公差分析技术。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-07-03
    • 文件大小：518144
    • 提供者：weixin_38502762

  1. 超大数值孔径极紫外光刻物镜的公差分析

  2. 超大数值孔径极紫外光刻物镜(NA>0.45)能够满足11 nm 光刻技术节点的需求，而高分辨率成像对物镜系统的公差要求非常严格。针对一套数值孔径为0.50 的极紫外投影物镜进行了补偿器选择和制造公差分析。通过对系统敏感元件结构参量构成的灵敏度矩阵进行奇异值分解(SVD)来选择像质补偿器。物镜系统的结构参量数目较多，而奇异值分解法要求灵敏度矩阵中结构参量数不多于像差数。为了满足奇异值分解法的要求，首先确定系统的敏感元件并选择敏感元件对应的结构参量构造灵敏度矩阵。再通过对该灵敏度矩阵进行奇异值

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-02-23
    • 文件大小：2097152
    • 提供者：weixin_38670531

  1. 基于随机集理论的电路公差分析

  2. 基于随机集理论的电路公差分析

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-02-23
    • 文件大小：492544
    • 提供者：weixin_38725450

  1. 紫外工业检测光学系统设计及公差分析

  2. 为满足紫外波段对产品的检测与识别需求, 设计出一套宽光谱、较大视场、较大光圈、结构紧凑的紫外工业检测光学系统, 要求紫外工业检测镜头的工作波长为240~320 nm, 全视场角为40°, 系统焦距为15 mm, F数为3, 系统总长小于60 mm。该系统采用MS20-UV型紫外电荷耦合器件（CCD）, 其分辨率为1920 pixel×1080 pixel, 像元尺寸为5.48 μm×5.48 μm。从成本及像质方面综合考虑, 最后采用全球面透射式且非胶合方案。该系统采用反摄远物镜为初始结构, 利

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-02-23
    • 文件大小：4194304
    • 提供者：weixin_38719643

  1. 基于公差分析的高功率激光装置组合透镜设计

  2. 从某高功率固体激光装置的实际需求出发, 优化设计了能够满足装置需求的组合透镜组, 并基于公差分析给出了各组组合透镜加工装配的公差要求, 为组合透镜在高功率固体激光装置中的工程应用提供了有力的支持。组合透镜在高功率固体激光装置中的应用对降低装置工程造价和提高光路的稳定性有较大意义。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-02-10
    • 文件大小：1048576
    • 提供者：weixin_38699352

  1. 投影光刻物镜倍率的公差分析与补偿

  2. 为满足严格的套刻需求，双远心结构的投影光刻物镜需要选择恰当的元件移动来进行倍率的补偿和调节。提出了一种简单而实用的方法来进行倍率的公差分析。该方法利用商业优化设计软件和有限差分算法计算了多项公差对物镜倍率的敏感程度，同时结合公差对系统波像差的敏感度选择最佳的倍率补偿元件。利用以上方法，对一台双远心、工作波长193 nm以及数值孔径0.75的投影光刻物镜进行了倍率的公差分析和补偿器优选。结果显示，系统较好地实现了±50×10-6的倍率调节功能，而系统波像差劣化程度均方根值小于1.5 nm。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-02-09
    • 文件大小：1048576
    • 提供者：weixin_38567813

  1. 静态傅里叶变换红外光谱仪的公差分析

  2. 由于光谱分辨率或光谱信噪比只能作为光谱仪干涉系统的性能评价指标，但不能用于光学系统的公差分析与优化，所以将系统分为三个子系统：前置光学系统、干涉系统与后置光学系统，分别采用不同的评价标准分析系统公差。前置光学系统采用波像差为评价标准，给出波像差与光谱噪声的关系，分析误差对波像差的影响，间接给出各种误差对系统性能的影响。干涉系统直接采用光谱噪声作为评价标准，可直接给出各种误差对系统性能的影响。后置光学系统采用光斑尺寸作为评价标准。通过这种方法，计算出三个子系统的灵敏度矩阵，并且给出了前置光学系统与

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-02-09
    • 文件大小：3145728
    • 提供者：weixin_38499349

  1. 基于统一场追迹理论的激光扫描系统公差分析

  2. 激光扫描系统广泛应用于激光加工和激光成像等高精度系统中, 其光学质量是制造过程最终的评价指标。在批量生产中, 需要对光学系统进行公差分析, 以满足使用需求, 同时降低加工成本。以激光扫描系统为例, 采用统一场光学分析对该光学系统进行仿真, 结合激光扫描系统的光学性能, 对系统各个元件间的位置误差和旋转误差进行公差分析。通过对每个元件进行公差约束, 使整体系统满足设计和使用需求。搭建激光扫描系统的测量平台, 验证了测量结果与统一场分析的一致性。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-02-06
    • 文件大小：11534336
    • 提供者：weixin_38612095

  1. 光电自准直经纬仪光学系统设计与公差分析

  2. 光电自准直经纬仪是一种集成了光电自准直仪和经纬仪双重功能的精密测量系统, 其光路由目视内调焦望远系统和光电自准直系统两部分组成。首先提出共光路光学系统的设计原理与方法, 优化设计成像清晰的内调焦望远系统和分辨率较高的自准直光学系统。然后对影响成像质量最大的多胶合棱镜进行公差分析和设计, 给出既满足成像要求又兼具经济性的加工公差值。最后对设计的光学系统进行精度测试。测试结果表明, 所设计的光学系统在±20″视场范围内自准直精度达到0.6″, 可以满足设计要求。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-02-04
    • 文件大小：5242880
    • 提供者：weixin_38691641

  1. 深紫外光刻照明系统的微反射镜阵列公差分析

  2. 为满足45 nm及其以下节点光刻技术对照明系统的需求,将深紫外光刻照明系统的光束整形单元所采用的微反射镜阵列(MMA)作为关键器件,以实现满足光源-掩模联合优化(SMO)技术需求的任意照明光源。根据MMA结构参数和加工制造调整特性,分析MMA角度误差类型。在此基础上,利用蒙特卡罗公差分析法模拟实际加工制造调整的过程,通过分析微反射镜角度误差对曝光结果的影响,制定了满足曝光要求的角度公差。结果显示,当MMA在正交方向上的角度调整公差和加工角度公差分别在(±0.04°,±0.06°)、(±0.04°

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-01-26
    • 文件大小：5242880
    • 提供者：weixin_38728277
« 12 3 4 5 6 7 8 9 10 »