研究并讨论了在衰减K±→π0π0e±νe（-）中同位旋断裂的两个方面。 第一个解决了统一点的现象学描述对从数据中提取形状因子归一化的可能影响。 使用介子的标量形状因数作为理论实验室，我们发现该确定在形状因数的现象学参数化的变化下是可靠的。 第二方面涉及辐射校正的问题。 我们在允许与在通道K±→π+π-e±νe（-）中处理辐射校正的方式进行比较的设置中，计算K±→π0π0e±νe（-）的总衰减率的辐射校正。 我们发现，一旦包含了辐射校正，就可以从两个衰变通道中的数据实验确定的形状因数归一化得到更好