在现有工艺水平下，由于受电容失配、系统失调以及噪声等因素的限制，采用电荷再分配结构的SAR ADC能够达到的最高精度被限制在12位左右。因此，高精度ADC设计必须依靠校准技术。一般校准技术有两类：模拟校准技术是在模拟领域把相关的量调整到正常数值或者利用激光对芯片元件进行修正，但这种技术成本高，且容易受到封装时机械应力的影响；还有一种数字校准技术，通过把电路中失配误差等影响在数字领域描述，然后在数字领域对输出代码进行调整，而不关心模拟领域的物理量数值。数字校准是现行校准技术的主流。
1 SAR
在现有工艺水平下，由于受电容失配、系统失调以及噪声等因素的限制，采用电荷再分配结构的SAR ADC能够达到的精度被限制在12位左右。因此，高精度ADC设计必须依靠校准技术。一般校准技术有两类：模拟校准技术是在模拟领域把相关的量调整到正常数值或者利用激光对芯片元件进行修正，但这种技术成本高，且容易受到封装时机械应力的影响；还有一种数字校准技术，通过把电路中失配误差等影响在数字领域描述，然后在数字领域对输出代码进行调整，而不关心模拟领域的物理量数值。数字校准是现行校准技术的主流。
1 SAR A
