“热像”是造成高功率固体激光装置光学元件损伤的重要物理机制。理论分析了相位缺陷经过非线性传输引起的“热像”特性, 提出了带通成像提取引起“热像”的相位缺陷关键频谱方法, 构建具有典型特征的16个相位缺陷, 利用3种光路结构, 量化分析了“热像”特性与带通成像特性间的关系, 并获得了缺陷带通成像的相对亮度与“热像”强度的线性关系, 相关程度与光学构型和带通滤波参数有关。研究结果对“热像”预判有重要意义, 为高功率激光装置相位缺陷的检测奠定了技术基础。