高速数字技术在开启新的技术可能及实现广泛创新的同时，也为检定和调试的设计工程师带来了很多问题。在这些问题中，首当其冲的是偶发性或间歇性的事件，如激光脉冲或亚稳定性。这些事件很难识别和检定，要求测试测量设备同时提供高采样率和超强的数据捕获能力。这对示波器性能提出了极高的要求，在过去，我们不得不在分辨率和捕获长度之间进行取舍。所有示波器的存储长度都是有限的；采样率越高，仪器存储器填充速度越快，数据采集的时间窗口越小。相反，在长时间周期内捕获数据一般需要以降低水平分辨率(采样率)为代价。 　　由于当