光栅刻线误差与基底面型误差影响平面光栅衍射波前、分辨本领、鬼线、卫线及杂散光等光谱性能，研究光栅性能指标与光栅刻线误差及基底加工误差之间的因果关系，对提高光栅质量极为重要。根据光栅衍射中产生的源于刻线误差与面型误差的光程差，推导出了在光栅锥面衍射情况下的光栅刻线误差、基底面型误差、入射角θ、衍射级次m与衍射波前关系的数学表达式，得到构建非理想光栅衍射波前的理论模型。以理论模型为依据，采用干涉仪测量光栅对称级次衍射波前，实现在测量结果中对光栅刻线误差与基底面型误差的分离，并基于二维快速傅里叶变换分