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  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2019-10-31
    • 文件大小:335872
    • 提供者:weixin_38743968
  1. 基础电子中的简述半导体功能测试

  2. 述半导体测试的专业术语 1. DUT   需要被实施测试的半导体器件通常叫做DUT(Device Under Test,我们常简称“被测器件”),或者叫UUT(Unit Under Test)。   首先我们来看看关于器件引脚的常识,数字电路期间的引脚分为“信号”、“电源”和“地”三部分。   信号脚,包括输入、输出、三态和双向四类,   输入:在外部信号和器件内部逻辑之间起缓冲作用的信号输入通道;输入管脚感应其上的电压并将它转化为内部逻辑识别的“0”和“1”电平。   输出:在芯片
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-10-22
    • 文件大小:120832
    • 提供者:weixin_38675746
  1. 半导体功能测试基础术语

  2. 半导体功能测试包含一些新的术语,这里先简单介绍一下。
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-10-25
    • 文件大小:72704
    • 提供者:weixin_38630139