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搜索资源列表

  1. 半导体测试原理 傅里叶变化

  2. 不知道里面都有些什么东西，有没有用。主要讲解傅里叶变化

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2009-08-29
    • 文件大小：245760
    • 提供者：dongyong508508

  1. 半导体集成电路（电压）放大器测试方法的基本原理SJ 10738-1996

  2. 半导体集成电路（电压）放大器测试方法的基本原理SJ 10738-1996

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2010-01-21
    • 文件大小：1048576
    • 提供者：flt9006

  1. 测试原理FundamentalOfTestingOnATE

  2. 介绍半导体测试流程，原理和测试方法，比较详细，对初入行业的很有用

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2011-02-10
    • 文件大小：7340032
    • 提供者：yifeng0104

  1. MOS半导体器件原理

  2. MOS器件的原理，设计，应用，版图，工艺，封装，测试

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2011-04-03
    • 文件大小：34816
    • 提供者：zwzjgyw

  1. 体集成电路 MOS随机存储器测试方法的基本原理

  2. SJT 10739-1996 半导体集成电路 MOS随机存储器测试方法的基本原理

  3. 所属分类：电信

    • 发布日期：2011-05-11
    • 文件大小：1048576
    • 提供者：li923661521

  1. PCM 测试原理

  2. 测试相关原理，基础教程，适合新进半导体人员参考，仅供参考~

  3. 所属分类：讲义

    • 发布日期：2015-06-01
    • 文件大小：601088
    • 提供者：s2357415

  1. DS12887原理及应用

  2. DS12887是美国达拉斯半导体公司最新推出的时钟芯片，采用CMOS技术制成，把时钟芯片所需的晶振和外部锂电池相关电路集于芯片内部，同时它与目前 IBM AT计算机常用的时钟芯片MC146818B和DS1287管脚兼容，可直接替换。采用DS12887芯片设计的时钟电路勿需任何外围电路并具有良好的微机接口。DS12887芯片具有微轼耗、外围接口简单、精度高、工作稳定可靠等优点，可广泛用于各种需要较高精度的实时时钟场合中。其主要功能如下：     (1)内含一个锂电池，断电情况运行十年以上不丢失数

  3. 所属分类：嵌入式

  1. 半导体测试原理 Fundamentals of Digital Semi Testing

  2. 半导体测试原理 Fundamentals of Digital Semi Testing，非常详细的参考资料，PDF格式，对于刚接触半导体测试的人员必看的资料哦

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2009-04-09
    • 文件大小：28311552
    • 提供者：skyhsm2014

  1. 数字半导体测试基础

  2. 数字半导体测试基础，这个手册时关于芯片编程的辅助，只有基于内部原理才能编出更好的应用程序，体会IC的世界对今后的其他编程有所助益

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2018-03-31
    • 文件大小：34603008
    • 提供者：caizhuohua

  1. 实验五：光纤位移传感器-位移测试实验.docx

  2. 半导体工艺原理实验。实验五：光纤位移传感器-位移测试实验

  3. 所属分类：嵌入式

    • 发布日期：2019-05-18
    • 文件大小：63488
    • 提供者：weixin_42379297

  1. 泰克研讨会 PWM 马达测试方案.zip

  2. 泰克研讨会 PWM 马达测试方案zip,虽然人们在多年前就已经理解脉宽调制驱动器的原理，但功率半导体、控制电子设备及微处理器技术的进步极大地刺激了这种驱动器的使用。用于工业领域，还用于电动汽车和家用空调等多种场合。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2019-10-19
    • 文件大小：5242880
    • 提供者：weixin_38743737

  1. LDO稳压器基本工作原理及环路补偿.pdf

  2. LDO稳压器基本工作原理及环路补偿pdf,由于超低ESR电容诸如陶瓷电容可以支持快速变化的负载瞬态，以及可以旁路线性稳压器不能抑制的、来自开关转换器电源的特高频噪声，从而广受欢迎输出电容ESR补偿 该例可以说明,为什么大多数LDO的数据表会公布 每个电容都包含了某些类型的寄生电阻,这意味着 ESR值的稳定范围,即输出电容必须满足其范围以确保落 可以将实际电容建模为一个电阻与一个理想电容的串联 稳压器工作的稳定:ESR零点是环路的主导补偿因素。 形式。这个串联电阻一般被称之为ESR(等效串联阻 E

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2019-09-13
    • 文件大小：438272
    • 提供者：weixin_38743737

  1. SJT 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理.pdf

  2. 这是2000版的《半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理》 国标

  3. 所属分类：制造

    • 发布日期：2012-12-12
    • 文件大小：704512
    • 提供者：yutou1978

  1. 半导体三极管β值数字显示测试电路设计

  2. 模电电工电子课程设计，有报告电路图原理等等

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2011-06-22
    • 文件大小：155648
    • 提供者：xiaodoubao127

  1. 磁敏电阻工作原理及特性

  2. 什么是磁敏电阻 磁敏电阻是一种对磁敏感、具有磁阻效应的电阻元件。物质在磁场中电阻发生变化的现象称为磁阻效应。磁敏电阻通常用锑化铟（InSb）或砷化铟（InAs）等对磁具有敏感性的半导体材料制成。半导体材料的磁阻效应包括物理磁阻效应和几何磁阻效应，其中物理磁阻效应又称为磁电阻率效应。 当外加磁场的方向或强度发生变化时，磁敏电阻的阻值相应改变［2］，利用该变化，可精确地测试出磁场的相对位移。例如，在一个长方形半导体InSb片中，沿长度方向有电流通过时，若在垂直于电流片的宽度方向上施加一个磁场，半

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-08-17
    • 文件大小：195584
    • 提供者：weixin_38663167

  1. 元器件应用中的温度传感器的应用及原理

  2. 温度测量应用非常广泛，不仅生产工艺需要温度控制，有些电子产品还需对它们自身的温度进行测量，如计算机要监控CPU的温度，马达控制器要知道功率驱动IC的温度等等，下面介绍几种常用的温度传感器。     温度是实际应用中经常需要测试的参数，从钢铁制造到半导体生产，很多工艺都要依靠温度来实现，温度传感器是应用系统与现实世界之间的桥梁。本文对不同的温度传感器进行简要概述，并介绍与电路系统之间的接口。     热敏电阻器     用来测量温度的传感器种类很多，热敏电阻器就是其中之一。许多热敏电阻具有负

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-15
    • 文件大小：185344
    • 提供者：weixin_38663007

  1. 在计数器上随机单输入跳变测试序列生成原理

  2. 前言 　　随着超大规模集成电路和系统级芯片(SoC)的发展，集成电路的测试面临越来越多的困难，尤其在测试模式下的功耗大大高于工作模式时的问题已经引起了研究人员的重视。随着IC工作频率、集成度、复杂度的不断提高，IC的功耗也快速增长。以Intel处理器为例，其最大功耗大约每4年增加1倍。而随着制造工艺特征尺寸的降低，CMOS管的静态功耗急剧增加，并且呈指数增长趋势。由此带来了一系列的现实问题，因为过大的功耗会引起IC运行温度上升，导致半导体电路的运行参数漂移，影响IC的正常工作，降低了芯片的成品

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-22
    • 文件大小：141312
    • 提供者：weixin_38666823

  1. 显示/光电技术中的可同时监控上百个通道的LED老化测试方案

  2. LED发光的原理： 　　中国LED产业起步于20世纪70年代。经过30多年的发展，中国LED产业已初步形成了包括LED外延片的生产、LED芯片的制备、LED芯片的封装以及LED成品应用在内的较为完整的产业链。 　　LED照明的LED是由Ⅲ-Ⅳ族化合物，如GaAs（砷化镓）、GaP（磷化镓）、GaAsP（磷砷化镓）等半导体制成的，其核心是PN结。因此它具有一般P-N结的I-N特性，即正向导通，反向截止、击穿特性。此外，在一定条件下，它还具有发光特性。在正向电压下，电子由N区注入P区，空穴由P区

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-21
    • 文件大小：167936
    • 提供者：weixin_38691970

  1. 电源技术中的脉冲宽度调制(PWM)器件的测试(图)

  2. 摘 要：本文介绍了PWM器件的出现、功能、结构和优点。同时，结合STS 2110B脉冲宽度调制器件测试系统，对PWM器件的测试原理和实现方法加以阐述和介绍。　　关键词：脉冲宽度调制；PWM；开关电源 PWM器件概述　　PWM器件是随着开关电源的发展和半导体集成技术的发展而出现的。开关电源是一种高频电源转换电路，采用开关器件来控制未经稳压的直流输入电源，配合相应的滤波线路，产生稳定的直流输出，输出电压的高低取决于开关器件的占空比。早期的开关电源采用分立器件，但结构复杂，性能也不

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-12-13
    • 文件大小：89088
    • 提供者：weixin_38589314

  1. 半导体光电探测器响应度测试装置的研制

  2. 分析了半导体光电探测器光谱响应度的测试原理；研制了一套波长为0.4～1.1μm的光谱响应度测试装置。该装置采用双光路替代法,可以测试绝对光谱响应度、相对光谱响应度和量子效率,并可减小光源不稳定性对测试结果的影响,最终给出了测试结果比对。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-02-11
    • 文件大小：762880
    • 提供者：weixin_38744803
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