为了提高单帧长曝光图像法的颗粒速度测量的测速上限, 以背光成像的单帧长曝光法测速装置为研究对象, 从轨迹识别的角度, 对该方法测速上限的影响因素进行了理论分析和实验研究。结果表明：在背光成像方式下, 颗粒速度越高, 轨迹灰度值越高, 越难以识别; 从轨迹可识别性的角度可知, 影响因素主要包括颗粒直径、颗粒透射率和光源光强; 当光源光强足够时, 背光成像的单帧长曝光法测速装置对直径50 μm不透光圆盘颗粒的测速上限为1250 m/s。