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单片机与DSP中的一种便携式磁记忆检测仪的设计和实现
工程中常采用无损检测(Nondestructive Testing简写为NDT)的方法检测设备与构件的缺陷,传统的NDT方法有超声、涡流、磁粉、着色等。但这些方法只能检测已经发展成形的缺陷,对于因应力集中而引发的疲劳断裂的早期诊断问题则无能为力。另一方面,传统的NDT方法具有设备体积大、劳动强度大、操作复杂、对人员素质要求高等缺点,且每一种方法都有各自的局限性。为了及时准确的对早期损伤特别是尚未成形的隐性不连续性变化进行评价,就必须开发出新的无损检测方法。 1997年在美国旧金山举行的第50
所属分类:
其它
发布日期:2020-10-23
文件大小:179200
提供者:
weixin_38555019