由于IC制程和设计技术的进步以及对于晶片功能和效能的需求，使得目前IC的功能性、效能和速度大幅提升。由于系统的周边功能越来越多样化，因此元件也变得越来越复杂。同样的趋势也发生在处理类比和数位讯号的混合讯号元件。　　为了像系统一样地测试混合讯号元件，元件的类比和数位输入和输出讯号必须具有弹性同步化的功能。此外也需要非同步讯号来模拟实际元件的操作。测试机本身必须能够产生和测量高解析度的讯号[1][2]并进行快速可靠的测试。针对复杂讯号的产生和量测，即时测试讯号的序列控制可以有效地缩短测试时间。　　在