半导体测试公司惠瑞捷半导体科技有限公司(Verigy Ltd.)针对65纳米和更小制程所生产的数字IC的晶圆测试(Wafer Sort)及终程测试(Final Test)，推出可执行结构及功能测试的V93000纳米电子数字信号测试解决方案(Nanoelectronics Digital Solution)。新设计将能大大受惠于这套解决方案提供的深入信息，且测试的效率极高，能以最低的测试成本(CoT)，加快产品的上市时间。     可插入惠瑞捷V93000测试头使用的单槽模块卡每平方公分包含的