设计一种两光束相向照射，在散射角θ=90°方向记录的干涉粒子成像测量实验系统，利用模版匹配相关方法提取粒子两点像的位置坐标，根据粒子像位置坐标，粒子掩模图的形状和大小提取出单个粒子两点像。再对每个粒子两点像进行自相关、Gaussian 插值提取两点像之间距离，进而计算得到粒子尺寸大小，其测量精度可达到亚像素精度。对标称值为45 μm 的标准粒子进行了测量，粒径测量值为(46.54 ± 0.50) μm，相对误差3.42%。实验结果表明了该方法的可行性。