建模并仿真了受激布里渊散射损耗相移谱的宽范围功率依赖特性；设计了基于外差抽运-斯托克斯技术的受激布里渊损耗相移谱测量系统，在抽运光功率5 μW~15 mW和斯托克斯光功率3.5~110 mW范围内测量了400 m标准单模光纤的受激布里渊损耗相移谱；分析了实测受激布里渊损耗相移谱产生中心不对称性的机理。结果表明，受激布里渊损耗相移范围与斯托克斯光功率呈良好线性关系，基本不受抽运光功率影响；实测受激布里渊损耗相移谱中心不对称性主要由光纤色散以及非线性折射率引起的非线性效应共同作用产生。根据理论和实验