我们提出了一种实验方案，以使用一维双色光学晶格中捕获的冷原子来模拟和检测时间可逆不变拓扑绝缘子的特性。 该系统由带有附加SU（2）量规结构的一维Aubry-Andre模型描述，该模型捕获了二维Z（2）拓扑绝缘体的基本属性。 我们证明，通过绝热扫描激光相，具有相反自旋方向的拓扑受保护的边缘状态可以泵浦穿过晶格。 此过程是在高度可控的环境中转移受拓扑保护的量子态的一种优雅方法。 我们讨论密度测量如何为一维系统发出的拓扑阶段提供清晰的特征。