注册会员 | 设为首页 | 加入收藏夹
您好，欢迎光临本网站！[请登录] ！[注册会员]！  

搜索资源列表

  1. 埋氧层固定电荷对SOI高压器件击穿电压的影响

  2. 埋氧层固定电荷对SOI高压器件击穿电压的影响，郭宇锋，张波，本文通过求解具有界面电荷边界条件的二维泊松方程，建立了埋氧层固定界面电荷Qf对RESURF SOI功率器件二维电场和电势分布影响的解析模

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2019-12-30
    • 文件大小：348160
    • 提供者：weixin_38613548