本文主要研究取决于二维光子晶体中的背景折射率的负折射现象，该二维光子晶体由带有Si的圆形介电棒的六边形晶格组成。 本文介绍了背景折射率与负折射率之间的关系。 通过在软件RSoft上使用时域有限差分（FDTD）方法来研究这种关系。 结果表明，输出功率与背景折射率的增加相加。 通过研究，提出了一种新的流体折射率检测方法。 与报道的其他普通液体折射率分析仪相比，该检测仪具有检测速度更快，杂散光干扰少和小型化的优点。