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基于支持向量机的自相关过程均值偏移识别研究
基于支持向量机的自相关过程均值偏移识别研究,张敏,张弛,常规控制图所要求的独立同分布的前提条件在实际中并不能总是得到满足,而由于数据采集技术的发展,自相关现象也更加普遍。对于一
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发布日期:2020-01-16
文件大小:270336
提供者:
weixin_38507208