针对TFT-LCD点缺陷自动光学检测时，缺陷与背景对比度较低难以用传统阈值分割算法处理的难题，提出一种改进的Otsu算法，并构建了TFT-LCD点缺陷自动光学检测系统。首先，通过Gabor滤波去除了纹理背景的影响。然后，利用威布尔函数形态参数分段取值时，其分布函数呈现的不同分布特性，改进了传统Otsu阈值提取函数。最后，进行了离线测试试验和在线测试试验。试验表明，改进的Otsu算法在点缺陷与背景对比度较低的情况下分割效果优于传统Otsu算法。将该算法移植到TFT-LCD点缺陷自动光学检测硬件平台