为研究电磁脉冲对计算机系统的干扰和破坏机理，利用GTEM室等大型装置产生的模拟核电磁脉冲为照射源，对计算机系统进行辐照效应实验。为了有效地研究计算机系统的电磁脉冲效应，需要专门用于电磁脉冲效应实验、具有故障重现功能的单片机系统。本文介绍了该系统的组成和原理，并给出了将该系统用于电磁脉冲效应实验的结果。

引言 为研究电磁脉冲对计算机系统的干扰和破坏机理，利用GTEM室等大型装置产生的模拟核电磁脉冲为照射源，对计算机系统进行辐照效应实验。为了有效地研究计算机系统的电磁脉冲效应，需要专门用于电磁脉冲效应实验、具有故障重现功能的单片机系统。本文介绍了该系统的组成和原理，并给出了将该系统用于电磁脉冲效应实验的结果。 电磁脉冲辐照效应实验方法 电磁脉冲对电予系统的辐照效应实验方法，简单地说就是将被测电子系统置于电磁脉冲辐射场中，接受电磁脉冲的照射，研究被测系统在电磁脉冲照射下受干扰、损伤的情况。

电磁脉冲辐照效应实验方法电磁脉冲对电予系统的辐照效应实验方法，简单地说就是将被测电子系统置于电磁脉冲辐射场中，接受电磁脉冲的照射，研究被测系统在电磁脉冲照射下受干扰、损伤的情况。实验配置如图1所示。主要由吉赫横电磁波传输室(GTEM Cell)、Marx发生器、控制台和被试系统等组成。Marx发生器用于产生高电压，与GTEM室配合，在GTEM室内产生均匀电磁场。控制台主要由示波器、光接收机和Marx控制面板组成。光接收机和电场传感器组成模拟量光纤场测量系统，主要用于将辐射电磁场转换成电压信号；示