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  1. 单片机应用技术选编（7）

  2. 内容简介 　　 《单片机应用技术选编》(7) 选编了1998年国内50种科技期刊中有关单片机开发应用的文 章共510篇，其中全文编入的有113篇，摘要编入的397篇。全书共分八章，即单片机综合 应用技术；智能仪表与测试技术；网络、通信与数据传输；可靠性与抗干扰技术；控制系统 与功率接口技术；电源技术；实用设计；文章摘要。 　　 本书具有重要实用价值，书中介绍的新技术、新器件以及单片机应用系统的软、硬件资 料有助于减少产品研制过程中的重复性劳动，提高单片机应用技术水平，是从事单片机应用 开发技

  3. 所属分类：硬件开发

    • 发布日期：2010-05-19
    • 文件大小：13631488
    • 提供者：zgraeae

  1. EDA—EDA技术实用教程(pdf影印)

  2. 学习VHDL和FPGA的经典资料 第 1 章 概述 1.1 EDA 技术及其发展 1.2 EDA 技术实现目标 1.3 硬件描述语言VHDL 1.4 VHDL 综合 1.5 基于VHDL 的自顶向下设计方法 1.3 EDA 技术的优势 1.3 EDA 的发展趋势 【习题】 第 2 章 EDA 设计流程及其工具 2.1 设计流程 2.1.1 设计输入(原理图／HDL 文本编辑) 2.1.2 综合 2.1.3 适配 2.1.4 时序仿真与功能仿真 2.1.5 编程下载 2.1.6 硬件测试 2.2

  3. 所属分类：硬件开发

    • 发布日期：2010-06-07
    • 文件大小：8388608
    • 提供者：zt839486421

  1. 嵌入式Linux设备驱动程序

  2. 嵌入式Linux设备驱动程序开发 目录 第1章 嵌入式系统与驱动程序 1 本章目标 1 1.1 嵌入式系统概述 1 1.1.1 嵌入式系统的概念 1 1.1.2 嵌入式系统的特点 2 1.1.3 嵌入式系统的体系结构 2 1.2 嵌入式处理器介绍 4 1.2.1 嵌入式处理器分类 4 1.2.2 ARM概述 5 1.2.3 ARM系列芯片简介 5 1.3 嵌入式操作系统介绍 7 1.3.1 主流嵌入式操作系统 7 1.3.2 嵌入式系统的发展状况 8 1.3.3 嵌入式Linux介绍 8 1.

  3. 所属分类：硬件开发

    • 发布日期：2010-07-21
    • 文件大小：10485760
    • 提供者：wpj010250

  1. EDA—EDA技术实用教程

  2. 综合 1.5 基于VHDL 的自顶向下设计方法 1.3 EDA 技术的优势 1.3 EDA 的发展趋势 【习题】 第 2 章 EDA 设计流程及其工具 2.1 设计流程 2.1.1 设计输入(原理图／HDL 文本编辑) 2.1.2 综合 2.1.3 适配 2.1.4 时序仿真与功能仿真 2.1.5 编程下载 2.1.6 硬件测试 2.2 ASIC 及其设计流程 2.2.1 ASIC 设计方法 2.2.2 一般ASIC 设计的流程 2.3 常用EDA 工具 2.3.1 设计输入编辑器 2.3.2

  3. 所属分类：硬件开发

    • 发布日期：2010-11-19
    • 文件大小：8388608
    • 提供者：sundyqt

  1. 全国大学生电子设计竞赛培训教程

  2. 很全很系统的电子设计竞赛教程 全国大学生电子设计竞赛训练教程 目 录 第1章电子设计竞赛题目与分析 1.1 全国大学生电子设计竞赛简介 1.1电子设计竞赛题目.doc(49 KB, 下载次数: 4829) 1.2 全国大学生电子设计竞赛命题原则及要求 1.2.1 命题范围 1.2.2 题目要求 1.2.3 题目类型 1.2.4 命题格式 1.2.5 征题办法 1.3 电子设计竞赛的题目分析 1.3.1 电源类题目分析 1.3.1 电源类题目分析.doc(110.5 KB, 下载次数: 7116

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2014-05-11
    • 文件大小：13631488
    • 提供者：u010102994

  1. 电子设计竞赛

  2. 1.1 全国大学生电子设计竞赛简介 1.2 全国大学生电子设计竞赛命题原则及要求 1.2.1 命题范围 1.2.2 题目要求 1.2.3 题目类型 1.2.4 命题格式 1.2.5 征题办法 1.3 电子设计竞赛的题目分析 1.3.1 电源类题目分析 1.3.2信号源类题目分析 1.3.3无线电类题目分析 1.3.4放大器类题目分析 1.3.5仪器仪表类题目分析 1.3.6数据采集与处理类题目分析 1.3.7控制类题目分析 第2章 电子设计竞赛基础训练 2.1 电子元器件的识别 2.1.1 电

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2014-06-02
    • 文件大小：10485760
    • 提供者：baidu_15309221

  1. 数字测试式LCD控制驱动电路测试方法

  2. 本文主要介绍了基于数字测试系统的LCD控制驱动电路的简单测试方法及笔者在实践中总结的一些小技巧。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-08-29
    • 文件大小：129024
    • 提供者：weixin_38701725

  1. 基于数字测试系统的LCD控制驱动电路测试方法

  2. 随着科技的发展，LCD驱动电路的品种也日新月异，对于这一系列的电路，针对不同的电路性能，其测试方法也各有不同。本文仅对基于数字测试系统的LCD控制驱动电路的测试方法做了简单介绍，并共享了一些笔者在实践中总结的测试小技巧，适用于进行LCD控制驱动电路低成本、高品质的测试。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-08-29
    • 文件大小：131072
    • 提供者：weixin_38618024

  1. 电子测量中的基于数字测试系统的LCD控制驱动电路测试方法（二）

  2. 3 LCD控制驱动电路的测试方法 　　由上面简单列举的LCD控制驱动电路测试时的一些典型问题可以看出，此类电路的测试对测试设备的测试能力提出了很高要求，因此对于LCD控制驱动电路来说，最佳的测试设备非LCD电路专用测试系统莫属，比如全球最大的测试设备商日本爱德万（Advantest）公司的T6371、T6373、ND1、ND2等，2008年泰瑞达（Teradyne）推出的D750Ex,以及目前LCD驱动IC封测厂量产中主要使用的横河电机（Yokoga wa）的TS670及TS6700等。TS6

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-20
    • 文件大小：138240
    • 提供者：weixin_38667581

  1. 电子测量中的基于数字测试系统的LCD控制驱动电路测试方法（一）

  2. 摘 要：随着液晶显示器在日常生活中得到越来越广泛的应用，其核心部件--LCD控制驱动电路的品种及需求量也日益增多。通常情况下，对LCD控制驱动电路的 测试是在LCD电路专用测试系统上完成的，但因其价格昂贵，使得测试成本也相应地大幅抬高，成为制约LCD控制驱动电路批量生产的瓶颈。文章针对上述原 因，提出了一种基于数字测试系统的LCD控制驱动电路的测试方法，以便低成本、高品质地实现LCD控制驱动电路的测试。同时针对LCD控制驱动电路的特 点，结合实践经验介绍了一些LCD控制驱动电路的测试技巧。 　

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-20
    • 文件大小：58368
    • 提供者：weixin_38536841

  1. 数字测试式LCD控制驱动电路测试方法

  2. 随着液晶显示器在日常生活中得到越来越广泛的应用，其核心部件——LCD控制驱动电路的品种及需求量也日益增多。通常情况下，对LCD控制驱动电路的测试是在LCD电路专用测试系统上完成的，但因其价格昂贵，使得测试成本也相应地大幅抬高，成为制约LCD控制驱动电路批量生产的瓶颈。文章针对上述原因，提出了一种基于数字测试系统的LCD控制驱动电路的测试方法，以便低成本、高品质地实现LCD控制驱动电路的测试。同时针对LCD控制驱动电路的特点，结合实践经验介绍了一些LCD控制驱动电路的测试技巧。     1

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-20
    • 文件大小：137216
    • 提供者：weixin_38724535

  1. 数字测试式LCD控制驱动电路测试方法

  2. 随着液晶显示器在日常生活中得到越来越广泛的应用，其部件——LCD控制驱动电路的品种及需求量也日益增多。通常情况下，对LCD控制驱动电路的测试是在LCD电路专用测试系统上完成的，但因其价格昂贵，使得测试成本也相应地大幅抬高，成为制约LCD控制驱动电路批量生产的瓶颈。文章针对上述原因，提出了一种基于数字测试系统的LCD控制驱动电路的测试方法，以便低成本、高品质地实现LCD控制驱动电路的测试。同时针对LCD控制驱动电路的特点，结合实践经验介绍了一些LCD控制驱动电路的测试技巧。     1 前言

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-01-20
    • 文件大小：129024
    • 提供者：weixin_38644688

  1. 基于数字测试系统的LCD控制驱动电路测试方法（二）

  2. 3 LCD控制驱动电路的测试方法 　　由上面简单列举的LCD控制驱动电路测试时的一些典型问题可以看出，此类电路的测试对测试设备的测试能力提出了很高要求，因此对于LCD控制驱动电路来说，的测试设备非LCD电路专用测试系统莫属，比如的测试设备商日本爱德万（Advantest）公司的T6371、T6373、ND1、ND2等，2008年泰瑞达（Teradyne）推出的D750Ex,以及目前LCD驱动IC封测厂量产中主要使用的横河电机（Yokoga wa）的TS670及TS6700等。TS670及TS6

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-01-20
    • 文件大小：156672
    • 提供者：weixin_38601215

  1. 基于数字测试系统的LCD控制驱动电路测试方法（一）

  2. 摘 要：随着液晶显示器在日常生活中得到越来越广泛的应用，其部件--LCD控制驱动电路的品种及需求量也日益增多。通常情况下，对LCD控制驱动电路的 测试是在LCD电路专用测试系统上完成的，但因其价格昂贵，使得测试成本也相应地大幅抬高，成为制约LCD控制驱动电路批量生产的瓶颈。文章针对上述原 因，提出了一种基于数字测试系统的LCD控制驱动电路的测试方法，以便低成本、高品质地实现LCD控制驱动电路的测试。同时针对LCD控制驱动电路的特 点，结合实践经验介绍了一些LCD控制驱动电路的测试技巧。 　　1

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-01-20
    • 文件大小：57344
    • 提供者：weixin_38679839