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  1. 基于数字IC测试机架构详细讲解测试理论

  2. 基于数字IC测试机架构详细讲解测试理论
  3. 所属分类:嵌入式

    • 发布日期:2012-03-19
    • 文件大小:1036288
    • 提供者:siaswjf
  1. 基于数字IC测试机架构详细讲解测试理论

  2.                 随着PCB组装大规模生产线的出现,使得传统的测试观念发生变化,希望PCB上的问题能在成品前的几道工序就能及时发现并修复,于是从80年代开始,出现了光板测试仪和在线测试仪(ICT & ATE),并导入生产制程,使PCB的成品率大大提升
  3. 所属分类:IT管理

    • 发布日期:2012-08-30
    • 文件大小:1036288
    • 提供者:sushe432