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基于数字IC测试机架构详细讲解测试理论
基于数字IC测试机架构详细讲解测试理论
所属分类:
嵌入式
发布日期:2012-03-19
文件大小:1036288
提供者:
siaswjf
基于数字IC测试机架构详细讲解测试理论
随着PCB组装大规模生产线的出现,使得传统的测试观念发生变化,希望PCB上的问题能在成品前的几道工序就能及时发现并修复,于是从80年代开始,出现了光板测试仪和在线测试仪(ICT & ATE),并导入生产制程,使PCB的成品率大大提升
所属分类:
IT管理
发布日期:2012-08-30
文件大小:1036288
提供者:
sushe432