提出了一种离线式基于时间门的荧光受激发射损耗(g-STED)显微方法。基于在强光照条件下荧光寿命缩短的理论模型，在常规STED架构基础上，使用时间相关单光子记数(TCSPC)算法获取图像的荧光寿命信息，离线设置合理的时间门阈值，丢弃短寿命信号数据，对荧光信号有效点扩展函数(PSF)进行压缩，达到超分辨显微的目的。与传统STED显微术相比，此方法所需光功率大幅度降低，减少了荧光漂白及光毒性；离线式处理则同时增加了时间门设置的灵活性。在实验中，使用45 mW的连续STED光，最终获取了约80 nm的