提出一种精密测量波片相位延迟的新方法。将待测波片置于起偏器和检偏器之间，通过步进电机控制波片匀速旋转，基于最小二乘法拟合出射光强随波片方位角变化的曲线，进而得到波片延迟。根据上述原理，建立了一套波片延迟测量系统，并分析了系统的稳定性、可测量的延迟范围、接收器件的非线性效应、系统误差源这4个影响测量精度的主要方面。结果表明，该系统不适于测量λ/2波片；检偏器方位角在±38°范围内，采样间隔小于10°时系统较稳定；接收器件的二次非线性效应产生较大的系统误差；波片初始角度误差和检偏器方位角误差对该系统