经常在MCU等应用系统中遇到系统电源电压出现欠压或意外掉电的情况，导致MCU的程序“跑飞”或丢失重要的数据。为了尽量避免这些情况的出现，掉电检测电路能够检测到系统供电电源异常，以提高系统的抗干扰能力和稳定性。提出一种基于180 nm工艺设计的掉电检测电路，具有结构简单、工作稳定可靠、版图面积小的优点，可集成在MCU等微处理器内部，实现对系统电源电压监测，减少系统的外围器件，降低系统成本。该电路结构可以非常容易地迁移至其他工艺节点，具备良好的工艺迁移特性和应用广泛性。