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  1. 基于物理模型来预测FinFET的性能下降,并考虑到由于热载流子注入引起的界面状态分布效应

  2. 基于物理模型来预测FinFET的性能下降,并考虑到由于热载流子注入引起的界面状态分布效应
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-02-24
    • 文件大小:866304
    • 提供者:weixin_38646706