提出了一种基于稀疏矩阵的表面疵病快速拼接方法。该方法采用环形白光光源均匀地照射到被测元件表面, 光经显微散射暗场成像系统后形成暗背景下的亮疵病图像。通过对光学元件的x, y方向进行扫描, 得到子孔径拼接图像。基于稀疏矩阵和图像拼接, 对子孔径图像进行快速拼接, 得到全孔径疵病图像。基于最小外接矩形原理, 对图像疵病进行识别和分类, 最终得到7个光学元件表面疵病划痕, 其最大长、宽分别为15.2110 mm和0.0297 mm; 麻点有5个, 其最大长、宽分别为0.1089 mm和0.0967 m
