X射线能谱分布在双能谱X射线计算层析(CT)成像、CT图像的硬化校正、CT成像的定量分析等方面起着重要的作用。传统的X 射线能谱估计方法是通过直接测量X射线穿过不同厚度物质后的衰减数据，间接估计X射线的能谱分布。与传统方法相比，提出一种由已知结构模体的CT数据间接估计X射线能谱的方法。该方法的特点是：1)不需要精确测量射线穿过物质的长度，只需要对已知结构和材质的模体进行CT扫描便可获得该材质下的衰减曲线，并且该方法对模体的制作精度要求不高；2)采用了带非线性约束的迭代求解方法，由于在迭代求解过程