结构光三维测量广泛应用于测量物体外轮廓，但使用这种技术测量金属零部件时，会由于金属表面的局部强反射形成高光区域，这种高光致使相机饱和、信息丢失，造成条纹中心提取不准确，从而产生较大的测量误差。因此，寻找一种有效的手段来避免高光问题是非常必要的。基于结构光测量系统自身的特点，提出一种新的高光去除方法——频域滤波法。该方法将高光视作噪声，通过对比分析漫反射光条和高光光条频谱分布的不同，制作合适的滤波器以滤除高光。通过3dsmax软件仿真，模拟高光效果，测试频域滤波后的条纹中心提取精度比不滤除前提高0