长期平均误码率，简称误码率(BitErrorRate，BER)，是光通信网络及设备的重要指标之一。目前光通信网络及设备正朝着小型化、高频率、高速率、大容量的方向发展，对作为测量仪器的误码测试仪速率及功能的要求也越来越高。虽然国内外仪器仪表厂，如安捷伦(Agilent)、泰克(Tektronix)等推出了各种高速误码测试仪，但是大多价格昂贵，并且系统复杂。所以，对于国内通信行业，开发一种价廉、方便、速率可达10Gb/s的高速误码测试系统，具有实用价值。1系统概述本误码测试系统由两部分组成：误码测试

针对国内外高速误码测试仪价格昂贵、系统复杂的现状，采用ADI公司的ARM7TDMI微控制器ADμC7020和SiliconLaboratoties公司生产的XFP收发芯片Si5040，设计一种简易、低成本的误码测试系统。系统由Si5040、ADμCT020和虚拟仪器LabWindows／CVI组成。Si5040具有可编程的伪随机码比特流生成和比较功能，读出误码值，通过ADμC7020计算得到误码率，并通过I2C接口与LabWindows／CVI构成的上位机进行通信。