绍了用于IP核测试的内建自测试方法(BIST)和面向测试的IP核设计方法,指出基于IP核的系统芯片(SOC)的测试、验证以及相关性测试具有较大难度,传统的测试和验证方法均难以满足。以编译码器IP核为例,说明了基于BIST的编译码器IP核测试的基本实现原理和具体实现过程,通过加入测试外壳实现了对IP核的访问、隔离和控制,提高了IP核的可测性。

基于IP核复用的SOC，其IP核类型和来源都不相同，即使已验证好的IP核在集成时也不能确保不出差错。IP核被集成到SOC后，其输入输出端口也嵌入到SOC，原本可测的端口失去了原有的可控性和可观测性，变得不可测。因此人们一直寻求有效的测试验证技术。本文给出了基于内建自测试方法(BIST)，在设计编译码器IP核的同时，考虑其测试外壳设计，以期提高IP核可测性。

1 引言 　　随着半导体工艺的发展，片上系统SOC已成为当今一种主流技术。基于IP复用的SOC设计是通过用户自定义逻辑(UDL)和连线将IP核整合为一个系统，提高了设计效率，加快了设计过程，缩短了产品上市时间。但是随着设计规模的增大，集成密度的提高，IP引脚的增多，IP的植入深度加大必然使得测试验证工作繁重。据统计，在SOC设计中，各种内核的测试验证工作所用的时间占整个设计过程的60％～80％，SOC及IP核的测试验证已成为SOC技术发展的瓶颈。如何在最短的时间内高效迅速地通过IP核验证与测试

介绍了用于IP核测试的内建自测试方法(BIST)和面向测试的IP核设计方法，指出基于IP核的系统芯片(SOC) 的测试、验证以及相关性测试具有较大难度，传统的测试和验证方法均难以满足。以编译码器IP核为例，说明了基于BIST的编译码器IP核测试的基本实现原理和具体实现过程，通过加入测试外壳实现了对IP核的访问、隔离和控制，提高了IP核的可测性。