给出了一种基于内建自测(BIST)的测试现场可编程门阵列(FPGA)逻辑单元的方法，讨论了测试的配置结构、故障覆盖率和测试中出现的问题及解决办法。实验表明，该测试方法具有所需测试向量少、故障覆盖率高、简便适用等优点。

摘　要：给出了一种基于内建自测(BIST)的测试现场可编程门阵列(FPGA)逻辑单元的方法，讨论了测试的配置结构、故障覆盖率和测试中出现的问题及解决办法。实验表明，该测试方法具有所需测试向量少、故障覆盖率高、简便适用等优点。 　　关键词：现场可编程门阵列；内建自测；响应检验电路；测试       引    言 　　现场可编程门阵列FPGA(Field ProgrammableGate Array)是一种新型器件，它将门阵列的通用结构与现场可编程的特性结合于一体，因而受到广泛关注。FPGA 测试中

摘　要：给出了一种基于内建自测(BIST)的测试现场可编程门阵列(FPGA)逻辑单元的方法，讨论了测试的配置结构、故障覆盖率和测试中出现的问题及解决办法。实验表明，该测试方法具有所需测试向量少、故障覆盖率高、简便适用等优点。 　　关键词：现场可编程门阵列；内建自测；响应检验电路；测试       引    言 　　现场可编程门阵列FPGA(Field ProgrammableGate Array)是一种新型器件，它将门阵列的通用结构与现场可编程的特性结合于一体，因而受到广泛关注。FPGA 测试中

现场可编程门阵列FPGA（Field ProgrammableGate Array）是一种新型器件，它将门阵列的通用结构与现场可编程的特性结合于一体，因而受到广泛关注。FPGA 测试中，测试激励的多种测试生成方法，都有其一定局限性，不能求出所有故障，而且随着集成电路规模的迅速膨胀，电路结构也越来越复杂，大量的故障变得不可测。所以，人们把视线转向了电路系统的设计过程。如果设计的电路容易测试，容易找到测试码，对测试和测试码的生成问题就大大简化，这就是可测性设计问题。可测性设计问题的一个主要解决方法就