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  1. 基于FPGA技术高频疲劳试验机控制器的设计

  2. 本文介绍的是基于FPGA技术高频疲劳试验机控制器的设计。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-08-08
    • 文件大小：81920
    • 提供者：weixin_38514872

  1. EDA/PLD中的基于FPGA技术高频疲劳试验机控制器的设计

  2. 1 简介 　　现场可编程门阵列FPGA(FieldProgrammable Gate Array)是美国Xilinx公司于1984年首先开发的一种通用型用户可编程器件。FPGA既具有门阵列器件的高集成度和通用性，又有可编程逻辑器件用户可编程的灵活性。 　　FPGA由可编程逻辑单元阵列、布线资源和可编程的I/O单元阵列构成，一个FPGA包含丰富的逻辑门、寄存器和I/O资源。一片FPGA芯片就可以实现数百片甚至更多个标准数字集成电路所实现的系统。 　　FPGA的结构灵活，其逻辑单元、可编程内部

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-21
    • 文件大小：84992
    • 提供者：weixin_38656374

  1. 基于FPGA技术高频疲劳试验机控制器的设计

  2. 1 简介 　　现场可编程门阵列FPGA(FieldProgrammable Gate Array)是美国Xilinx公司于1984年首先开发的一种通用型用户可编程器件。FPGA既具有门阵列器件的高集成度和通用性，又有可编程逻辑器件用户可编程的灵活性。 　　FPGA由可编程逻辑单元阵列、布线资源和可编程的I/O单元阵列构成，一个FPGA包含丰富的逻辑门、寄存器和I/O资源。一片FPGA芯片就可以实现数百片甚至更多个标准数字集成电路所实现的系统。 　　FPGA的结构灵活，其逻辑单元、可编程内部

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-01-19
    • 文件大小：83968
    • 提供者：weixin_38611254