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  1. 单片机应用技术选编（7）

  2. 内容简介 　　 《单片机应用技术选编》(7) 选编了1998年国内50种科技期刊中有关单片机开发应用的文 章共510篇，其中全文编入的有113篇，摘要编入的397篇。全书共分八章，即单片机综合 应用技术；智能仪表与测试技术；网络、通信与数据传输；可靠性与抗干扰技术；控制系统 与功率接口技术；电源技术；实用设计；文章摘要。 　　 本书具有重要实用价值，书中介绍的新技术、新器件以及单片机应用系统的软、硬件资 料有助于减少产品研制过程中的重复性劳动，提高单片机应用技术水平，是从事单片机应用 开发技

  3. 所属分类：硬件开发

    • 发布日期：2010-05-19
    • 文件大小：13631488
    • 提供者：zgraeae

  1. 基于FPGA的高性能DAC芯片测试与研究

  2. 本文提出了基于FPGA 的高性能DAC 芯片回路测试法

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-08-05
    • 文件大小：73728
    • 提供者：weixin_38550137

  1. 基于FPGA的高性能DAC芯片测试与研究

  2. D/A转换器作为连接数字系统与模拟系统的桥梁，不仅要求快速、灵敏，而且线性误差、信噪比和增益误差等也要满足系统的要求[1]。因此，研究DAC芯片的测试方法，对高速、高分辨率DAC芯片的研发具有十分重要的意义。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-23
    • 文件大小：216064
    • 提供者：weixin_38677306

  1. EDA/PLD中的基于FPGA的高性能DAC芯片测试与研究

  2. D/A 转换器作为连接数字系统与模拟系统的桥梁，不仅要求快速、灵敏，而且线性误差、信噪比和增益误差等也要满足系统的要求[1]。因此，研究DAC 芯片的测试方法，对高速、高分辨率DAC 芯片的研发具有十分重要的意义。 　　目前，波形测量和分析协会已提出了DAC 测试的技术标准IEEE Std.1057，里面的术语和测试方法为DAC 测试提供了更多的参考。传统的标准测试只适于信号发生器、示波器等测试仪器，但是测试精度不高；大规模芯片测试时则使用自动测试设备（ATE），但是成本很高；最近提出的DAC

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-11-03
    • 文件大小：217088
    • 提供者：weixin_38562492

  1. 基于FPGA的高性能DAC芯片测试与研究

  2. D/A 转换器作为连接数字系统与模拟系统的桥梁，不仅要求快速、灵敏，而且线性误差、信噪比和增益误差等也要满足系统的要求[1]。因此，研究DAC 芯片的测试方法，对高速、高分辨率DAC 芯片的研发具有十分重要的意义。 　　目前，波形测量和分析协会已提出了DAC 测试的技术标准IEEE Std.1057，里面的术语和测试方法为DAC 测试提供了更多的参考。传统的标准测试只适于信号发生器、示波器等测试仪器，但是测试精度不高；大规模芯片测试时则使用自动测试设备（ATE），但是成本很高；近提出的DAC

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-01-19
    • 文件大小：283648
    • 提供者：weixin_38639872