介绍了支持JTAG标准的IC芯片结构、边界扫描测试原理以及利用边界扫描技术控制IC芯片处于特定功能模式的方法。针对IC芯片某种特定的功能模式给出了设计思路和方法，并用两块xc9572 pc84芯片互连的PCB板为例进行设计分析和实验实现。通过实验实现,体现了边界扫描技术易于电路系统调试和方便系统设计的特点，且设计的系统控制逻辑简单方便，易于实现。

一、引言随着微电子技术进入超大规模集成电路（VLSI）时代，VLSI电路的高度复杂性及多层印制板、表面贴装（SMT）、圆片规模集成（WSI）和多芯片模块（MCM）技术在电路系统中的运用，使得电路节点的物理可访问性正逐步削减以至于消失，电路和系统的可测试性急剧下降，测试费用在电路和系统总费用中所占的比例不断上升，常规测试方法正面临着日趋严重的困难。测试算法的研究和测试实践证明了一个基本的事实：要对一个不具有可观测性的电路进行测试是徒劳的，只有提高电路的可测性设计（design for testab