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基于Temb和V模型的嵌入式软件测试方案
1引言 嵌入式设备已经在工业市场、自控市场以及国防建设等领域得到了广泛的应用,而且随着数字化产品时代的到来,大量硬件结构日趋复杂、功能日益强大的嵌入式系统不断进入人们的日常生活。这对嵌入式软件的开发和测试技术提出了新的挑战。在嵌入式系统中,软件占据了较大的比重,而软件测试技术成为保障软件质量最直接、最有效的手段之一。但是由于嵌入式软件本身的复杂性和不确定性,尤其是软件与硬件的紧密结合,一般的软件测试技术的实施具有较大的难度,因此.对于嵌入式软件需要有一种较为全面通用的分析测试方法,来检测软件
所属分类:
其它
发布日期:2021-03-23
文件大小:84992
提供者:
weixin_38653508
基于Temb和V模型的嵌入式软件测试方案
1引言 嵌入式设备已经在工业市场、自控市场以及国防建设等领域得到了广泛的应用,而且随着数字化产品时代的到来,大量硬件结构日趋复杂、功能日益强大的嵌入式系统不断进入人们的日常生活。这对嵌入式软件的开发和测试技术提出了新的挑战。在嵌入式系统中,软件占据了较大的比重,而软件测试技术成为保障软件质量最直接、最有效的手段之一。但是由于嵌入式软件本身的复杂性和不确定性,尤其是软件与硬件的紧密结合,一般的软件测试技术的实施具有较大的难度,因此.对于嵌入式软件需要有一种较为全面通用的分析测试方法,来检测软件
所属分类:
其它
发布日期:2021-03-23
文件大小:84992
提供者:
weixin_38623707