摘要：针对含DSP电路板的测试与诊断问题，本文提出一种利用边界扫描技术和传统的外部输入矢量测试相结合的方法，对含DSP电路板中的边界扫描器件的器件及非边界扫描器件进行了测试。较大的改善了含DSP电路板的测试覆盖率和定位精度，具有非常重要的实用价值。 　　1.引言 　　在现代雷达系统中，含DSP电路板应用很广，含DSP电路板通常是以某种DSP芯片为核心，外围配以双口RAM（DRAM）和闪存（Flash）等器件。DSP芯片大多支持IEEE1149.1标准，并且在电路板中形成了边界扫描链，支持边界

边界扫描原理剖析  　　边界扫描技术的核心思想是在器件内部的核心逻辑与I/O引 脚之间插入的边界扫描单元，它在芯片正常工作时是“透明”的，不影响电路板的正常工作。各边界扫描单元以串行方式连接成扫描链，通过扫描输入端将测试矢量 以串行扫描的方式输入，对相应的引脚状态进行设定，实现测试矢量的加载；通过扫描输出端将系统的测试响应串行输出，进行数据分析与处理，完成电路系统的故 障诊断及定位，边界扫描测试原理示意图如图1所示。 　　边界扫描测试的物理基础是IEEE1149.1边界扫描测试总线和设计在器件内

扩展到系统级的基础结构是提供单点接入到多扫描链，以支持隔离的诊断能力。这可以用于CPLD和FPGA系统内配置的最佳化，以及编程闪存时存储器读/写周期的最佳化。 　　它也支持板到板内连测试(用于背投内连失效诊断)到端口连接器引脚级。另一个优点是在产品装运前提供系统测试，这包括固件检验和简化固件更新。 　　扩展边界扫描到系统级提供执行嵌入式测试结构(即器件级BIST)的基础结构，这可在EPGA、ASIC和SoC中实现。 　　另外，它提供单点接入能力来支持环境重点测试和精确的引脚级诊断。